基于ARM的全自动荧光分析仪系统集成与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 目录 | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 课题背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 全自动荧光分析仪发展概况 | 第12-15页 |
| 1.2.1 发展历程 | 第12-14页 |
| 1.2.2 发展方向 | 第14-15页 |
| 1.3 全自动荧光分析仪国内发展现状 | 第15-16页 |
| 1.4 本论文研究内容、意义及论文安排 | 第16-18页 |
| 1.4.1 论文研究意义 | 第16页 |
| 1.4.2 论文研究内容 | 第16-17页 |
| 1.4.3 论文安排 | 第17-18页 |
| 第二章 系统总体方案设计 | 第18-26页 |
| 2.1 全自动荧光分析仪需求分析 | 第18-21页 |
| 2.1.1 系统组成 | 第18页 |
| 2.1.2 工艺流程分析 | 第18-20页 |
| 2.1.3 系统子设备分析 | 第20-21页 |
| 2.2 全自动荧光分析仪性能指标 | 第21页 |
| 2.3 控制系统总体方案设计 | 第21-25页 |
| 2.3.1 集散型控制系统 | 第21-23页 |
| 2.3.2 总体方案设计 | 第23-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 基于 ARM 的数据采集板硬件设计 | 第26-39页 |
| 3.1 需求分析 | 第26-27页 |
| 3.2 微控制器设计 | 第27-29页 |
| 3.2.1 微控制器芯片选型 | 第27-28页 |
| 3.2.2 微控制器系统设计 | 第28-29页 |
| 3.2.3 电源设计 | 第29页 |
| 3.3 数据采集模块 | 第29-32页 |
| 3.3.1 A/D 选择电路 | 第29-30页 |
| 3.3.2 光电传感器输入电路 | 第30页 |
| 3.3.3 液面检测 | 第30-32页 |
| 3.4 温度控制模块 | 第32-36页 |
| 3.4.1 温度传感器选型 | 第32页 |
| 3.4.2 数字式温度传感器 DS18B20 | 第32-34页 |
| 3.4.3 温度控制策略 | 第34-36页 |
| 3.5 振动电机模块 | 第36-38页 |
| 3.5.1 芯片选型 | 第36页 |
| 3.5.2 主电路 | 第36-37页 |
| 3.5.3 自动半流电路 | 第37-38页 |
| 3.6 本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 通信协议的设计 | 第39-51页 |
| 4.1 需求分析 | 第39-40页 |
| 4.1.1 协议需解决的问题 | 第39-40页 |
| 4.2 通信方案选择 | 第40-41页 |
| 4.2.1 通信方案比较 | 第40页 |
| 4.2.2 通信方案确定 | 第40-41页 |
| 4.3 PC 机与控制板通信协议 | 第41-44页 |
| 4.3.1 通信过程 | 第41-43页 |
| 4.3.2 通信数据结构 | 第43页 |
| 4.3.3 具体通信命令 | 第43-44页 |
| 4.4 PC 机与检测仪的通信协议 | 第44-47页 |
| 4.4.1 通讯过程 | 第44-45页 |
| 4.4.2 数据格式 | 第45-47页 |
| 4.5 PC 机与洗板机通信协议 | 第47-49页 |
| 4.5.1 通信过程 | 第47-48页 |
| 4.5.2 通信数据结构定义 | 第48-49页 |
| 4.6 异常处理及实现方案 | 第49-50页 |
| 4.6.1 通信异常 | 第49页 |
| 4.6.2 通信异常处理机制 | 第49页 |
| 4.6.3 上位机读取串口信息实现方案 | 第49-50页 |
| 4.7 本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 工序调度系统 | 第51-64页 |
| 5.1 工序调度系统介绍 | 第51-52页 |
| 5.2 输入处理模块 | 第52-56页 |
| 5.2.1 输入接口设计 | 第53-54页 |
| 5.2.2 连接数据库 | 第54-55页 |
| 5.2.3 计算工序时间 | 第55-56页 |
| 5.3 优化调度模块 | 第56-60页 |
| 5.3.1 基本模型 | 第56-57页 |
| 5.3.2 基于粒子群算法的工序调度方法 | 第57-60页 |
| 5.4 输出处理模块 | 第60-63页 |
| 5.4.1 甘特图 | 第60页 |
| 5.4.2 控制接口 | 第60-63页 |
| 5.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第六章 系统测试 | 第64-71页 |
| 6.1 系统调试 | 第64-65页 |
| 6.1.1 硬件调试 | 第64页 |
| 6.1.2 动态调试 | 第64-65页 |
| 6.1.3 系统调试 | 第65页 |
| 6.2 系统测试 | 第65-70页 |
| 6.2.1 数据采集板测试 | 第66页 |
| 6.2.2 通信协议测试 | 第66-67页 |
| 6.2.3 工序调度系统测试 | 第67-70页 |
| 6.3 本章小结 | 第70-71页 |
| 结论与展望 | 第71-73页 |
| 本文总结 | 第71页 |
| 未来展望 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 附件 | 第79页 |
