涂硼MWPC热中子探测器信号读出方法研究
摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第12-34页 |
1.1 中子及中子探测 | 第12-18页 |
1.1.1 中子的分类 | 第14-15页 |
1.1.2 中子与核的相互作用 | 第15-16页 |
1.1.3 热中子探测的几种轻核反应 | 第16-18页 |
1.2 中子散射及位置灵敏探测器 | 第18-27页 |
1.2.1 中子散射及其应用 | 第18-19页 |
1.2.2 二维位置灵敏探测器 | 第19-27页 |
1.3 本论文的研究意义、内容与结构安排 | 第27-30页 |
参考文献 | 第30-34页 |
第2章 中子位置灵敏探测方法及读出电子学研究现状 | 第34-47页 |
2.1 D22 SANS的中子探测 | 第34-37页 |
2.2 FRM-Ⅱ中子源的实验设备 | 第37-38页 |
2.3 J-PARC中子散射中的MWPC读出 | 第38-41页 |
2.4 我国的实验装置对热中子位置灵敏探测的需求 | 第41-43页 |
2.5 小结 | 第43-44页 |
参考文献 | 第44-47页 |
第3章 时间差法的信号传输分析 | 第47-67页 |
3.1 二维位敏探测器信号特征 | 第47-48页 |
3.2 二维位敏探测器读出电子学架构 | 第48-49页 |
3.3 时间差法延迟链的信号传输模型 | 第49-63页 |
3.3.1 信号传输模型 | 第50-55页 |
3.3.2 参数选取分析 | 第55-62页 |
3.3.3 前端非线性的分析 | 第62-63页 |
3.4 延迟单元模块设计 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-67页 |
第4章 前端电子学模拟信号调理 | 第67-85页 |
4.1 前端电子学的总体需求 | 第67-68页 |
4.2 放大电路设计方法 | 第68-81页 |
4.2.1 反馈系统基础回顾 | 第68-69页 |
4.2.2 放大器基本分类 | 第69-73页 |
4.2.3 放大与甄别电路设计分析 | 第73-81页 |
4.3 前端放大电路架构 | 第81-84页 |
参考文献 | 第84-85页 |
第5章 高精度时间测量与数据传输 | 第85-108页 |
5.1 时间测量的技术方案 | 第85-93页 |
5.1.1 直接测量时间法 | 第85-90页 |
5.1.2 “粗、细”结合的时间测量技术 | 第90-93页 |
5.2 时间测量电路的设计 | 第93-101页 |
5.2.1 硬件功能设计 | 第94-97页 |
5.2.2 TDC数据的处理和封装 | 第97-101页 |
5.3 数据传输方案 | 第101-104页 |
5.3.1 数据传输协议 | 第102-103页 |
5.3.2 FPGA SoC子板设计 | 第103-104页 |
5.4 前后端电子学系统架构总结 | 第104-106页 |
参考文献 | 第106-108页 |
第6章 多重击中事例处理可能性的探索 | 第108-120页 |
6.1 多重击中事例的产生以及处理需求分析 | 第108-112页 |
6.2 实时提取部分事例的方法 | 第112-114页 |
6.3 更高要求的还原方法 | 第114-118页 |
6.3.1 多域甄别定时 | 第114-115页 |
6.3.2 模拟切换方法 | 第115-116页 |
6.3.3 ADC采样与模板波形的扣除方法 | 第116-118页 |
参考文献 | 第118-120页 |
第7章 测试结果与分析 | 第120-148页 |
7.1 前端电子学实验室环境测试 | 第120-133页 |
7.1.1 延迟模块的测试方案 | 第120页 |
7.1.2 延迟模块的独立测试结果 | 第120-127页 |
7.1.3 放大电路的测试方案 | 第127-129页 |
7.1.4 放大电路的测试结果 | 第129-133页 |
7.2 后端电子学实验室环境测试 | 第133-135页 |
7.2.1 测试方案 | 第133页 |
7.2.2 TDM性能测试结果 | 第133-135页 |
7.3 前后端电子学实验室联调 | 第135-145页 |
7.4 电子学与探测器的初步互联 | 第145-147页 |
参考文献 | 第147-148页 |
第8章 总结与展望 | 第148-151页 |
8.1 总结 | 第148-149页 |
8.2 创新点 | 第149页 |
8.3 展望 | 第149-151页 |
致谢 | 第151-153页 |
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第153页 |