| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9页 |
| 第一章 绪论 | 第14-21页 |
| 1.1 引言 | 第14页 |
| 1.2 三维形貌测量技术概述 | 第14-18页 |
| 1.2.1 三维形貌测量方法综述 | 第14-16页 |
| 1.2.2 光学三维形貌测量方法概况 | 第16-18页 |
| 1.3 条纹投影技术概述 | 第18页 |
| 1.4 本文拟解决的主要问题 | 第18-19页 |
| 1.5 本文研究的主要内容 | 第19-21页 |
| 第二章 正弦条纹投影相移法三维形貌测量基本原理 | 第21-40页 |
| 2.1 相移法测量原理与系统组成 | 第21-24页 |
| 2.1.1 相移法测量系统的组成 | 第21页 |
| 2.1.2 相移法三维形貌测量系统的原理 | 第21-23页 |
| 2.1.3 相移法基本原理 | 第23-24页 |
| 2.2 包裹相位图的计算 | 第24-30页 |
| 2.2.1 三步相移法及图像采集 | 第24-25页 |
| 2.2.2 四步相移法及图像采集 | 第25-26页 |
| 2.2.3 其他相移法 | 第26-27页 |
| 2.2.4 各种相移法的优缺点 | 第27-28页 |
| 2.2.5 相移法解调相位的仿真 | 第28-30页 |
| 2.3 相位解包裹算法原理 | 第30-38页 |
| 2.3.1 相位解包裹概述 | 第30-31页 |
| 2.3.2 Itoh相位展开原理及仿真 | 第31-35页 |
| 2.3.3 基于可靠度排序的非连续路径解包裹算法原理及仿真 | 第35-38页 |
| 2.4 本章小结 | 第38-40页 |
| 第三章 测量系统的组建与三维重构方法 | 第40-56页 |
| 3.1 测量系统组建与建模 | 第40-46页 |
| 3.1.1 测量系统相位高度映射关系 | 第40-41页 |
| 3.1.2 测量系统建模——相位高度映射关系测量原理 | 第41-46页 |
| 3.2 测量系统参数的标定 | 第46-55页 |
| 3.2.1 相位高度模型的参数标定 | 第46页 |
| 3.2.2 相位高度映射关系标定实验 | 第46-47页 |
| 3.2.3 摄像机标定 | 第47-55页 |
| 3.3 本章小结 | 第55-56页 |
| 第四章 二进制条纹相移法三维测量方法 | 第56-69页 |
| 4.1 二进制条纹散焦投影三维形貌测量方法 | 第56-62页 |
| 4.1.1 二进制条纹散焦原理及产生方法 | 第56-57页 |
| 4.1.2 散焦条纹截面状况仿真分析 | 第57-62页 |
| 4.2 二进制条纹聚焦投影三维形貌测量方法 | 第62-67页 |
| 4.2.1 二进制条纹聚焦投影测量技术 | 第62页 |
| 4.2.2 二进制条纹聚焦投影三维形貌测量的仿真 | 第62-66页 |
| 4.2.3 二进制条纹聚焦投影解包裹后存在的问题 | 第66-67页 |
| 4.3 二进制条纹与正弦条纹相移法三维测量的区别与联系 | 第67-68页 |
| 4.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 第五章 二进制条纹相移法三维形貌测量系统实验及结果分析 | 第69-80页 |
| 5.1 三维形貌测量系统的组建 | 第69-70页 |
| 5.1.1 测量系统的组成和实验准备 | 第69-70页 |
| 5.1.2 实验设备的选取 | 第70页 |
| 5.2 二进制条纹投影相移法三维测量实验 | 第70-79页 |
| 5.2.1 三步相移法实验结果 | 第70-72页 |
| 5.2.2 四步相移法实验结果 | 第72-75页 |
| 5.2.3 九步相移法实验结果 | 第75-77页 |
| 5.2.4 正弦条纹投影实验结果 | 第77-78页 |
| 5.2.5 性能分析 | 第78-79页 |
| 5.3 本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 6.1 论文总结 | 第80-81页 |
| 6.2 展望 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-85页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第85页 |
