宇宙线μ子寿命测量电子学系统的研制
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 什么是μ子 | 第10-11页 |
| 1.3 μ子的历史 | 第11页 |
| 1.4 宇宙线中的μ子 | 第11-12页 |
| 1.5 μ子寿命及其测量 | 第12-16页 |
| 1.6 本论文的研究内容及结构组织 | 第16-18页 |
| 第2章 宇宙线μ子寿命测量原理 | 第18-24页 |
| 2.1 μ子衰变时间分布 | 第18页 |
| 2.2 μ子衰变事例探测原理 | 第18-19页 |
| 2.3 传统的μ子寿命测量方法 | 第19-20页 |
| 2.4 我系高能物理实验室研制的测量系统 | 第20-21页 |
| 2.5 闪烁探测器及其工作原理 | 第21-22页 |
| 2.6 探测器模拟 | 第22-24页 |
| 第3章 时间测量技术研究 | 第24-34页 |
| 3.1 时间测量技术研究 | 第24-27页 |
| 3.2 定时技术研究 | 第27-30页 |
| 3.3 时间测量方案确定 | 第30-34页 |
| 第4章 基于直接计数型TDC的电子学系统设计 | 第34-56页 |
| 4.1 电子学系统设计要求 | 第34页 |
| 4.2 电子学系统方案 | 第34-35页 |
| 4.3 μ子寿命测量板硬件设计 | 第35-41页 |
| 4.4 固件程序设计 | 第41-53页 |
| 4.5 上位机软件设计 | 第53-56页 |
| 第5章 基于游标型TDC的电子学系统设计 | 第56-70页 |
| 5.1 游标型TDC模块设计 | 第56-66页 |
| 5.2 自检模块的设计 | 第66-68页 |
| 5.3 成形模块的设计 | 第68页 |
| 5.4 其他模块的设计 | 第68-70页 |
| 第6章 系统测试 | 第70-84页 |
| 6.1 基于直接计数型TDC的电子学系统测试 | 第70-75页 |
| 6.2 基于游标型TDC的电子学系统测试 | 第75-81页 |
| 6.3 测试结果总结 | 第81-84页 |
| 第7章 总结与展望 | 第84-86页 |
| 7.1 论文总结 | 第84-85页 |
| 7.2 工作展望 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-88页 |
| 致谢 | 第88-90页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第90页 |
