| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-23页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 粒子信息提取的研究现状 | 第11-22页 |
| 1.2.1 粒子信息提取技术与方法国内外研究现状 | 第12-21页 |
| 1.2.2 粒子信息提取方法总结与关键问题分析 | 第21-22页 |
| 1.3 课题的主要研究内容 | 第22-23页 |
| 第2章 激光干涉粒子成像测量原理 | 第23-38页 |
| 2.1 引言 | 第23页 |
| 2.2 粒子散射光特性分析 | 第23-25页 |
| 2.2.1 Mie散射理论计算 | 第23-24页 |
| 2.2.2 Debye级数展开模型计算 | 第24-25页 |
| 2.3 激光干涉粒子成像测量技术的光路模型分析 | 第25-26页 |
| 2.4 激光干涉粒子成像粒径测量公式 | 第26-33页 |
| 2.4.1 相位差法 | 第27-31页 |
| 2.4.2 杨氏干涉法 | 第31-33页 |
| 2.5 粒子尺寸测量的影响因素 | 第33-36页 |
| 2.5.1 入射光波长 | 第33-34页 |
| 2.5.2 散射角 | 第34页 |
| 2.5.3 折射率 | 第34-35页 |
| 2.5.4 收集角 | 第35-36页 |
| 2.6 本章小结 | 第36-38页 |
| 第3章 激光干涉粒子图像的信息获取 | 第38-49页 |
| 3.1 引言 | 第38页 |
| 3.2 干涉条纹图信息提取的整体方案 | 第38-39页 |
| 3.3 基于形态学-Hough变换的粒子干涉条纹图识别算法 | 第39-46页 |
| 3.3.1 基于形态学的边缘检测算法 | 第39-41页 |
| 3.3.2 Hough变换圆检测 | 第41-44页 |
| 3.3.3 粒子干涉条纹图识别 | 第44-46页 |
| 3.4 基于Fourier变换技术的条纹频率信息提取算法 | 第46-48页 |
| 3.5 本章小结 | 第48-49页 |
| 第4章 喷雾粒子场激光干涉粒子成像实验验证 | 第49-66页 |
| 4.1 引言 | 第49页 |
| 4.2 标准粒子测量实验系统 | 第49-54页 |
| 4.2.1 光路系统设置 | 第49-50页 |
| 4.2.2 参数选取 | 第50-53页 |
| 4.2.3 实验及结果分析 | 第53-54页 |
| 4.3 水喷雾场测量实验系统 | 第54-65页 |
| 4.3.1 CCD相机粒径测量方法 | 第55-59页 |
| 4.3.2 IPI粒径测量实验系统 | 第59-63页 |
| 4.3.3 水喷雾场的粒径分布及SMD对比 | 第63-65页 |
| 4.4 本章小结 | 第65-66页 |
| 结论 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |