基于缺陷信息的源代码特征挖掘研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-10页 |
| 1.1 研究背景 | 第8-9页 |
| 1.2 研究内容 | 第9页 |
| 1.3 论文章节安排 | 第9-10页 |
| 第二章 缺陷检测技术及其问题分析 | 第10-38页 |
| 2.1 基于缺陷模式的静态测试技术 | 第10-14页 |
| 2.1.1 缺陷模式定义 | 第11-12页 |
| 2.1.2 缺陷模式检测 | 第12-14页 |
| 2.2 静态检测工具面临的问题及分析 | 第14-37页 |
| 2.2.1 重复相似的真实缺陷 | 第15-32页 |
| 2.2.2 大量误报的潜在缺陷 | 第32-37页 |
| 2.3 本章小结 | 第37-38页 |
| 第三章 缺陷源代码的特征挖掘 | 第38-53页 |
| 3.1 概述 | 第38-39页 |
| 3.2 缺陷踪迹提取 | 第39-46页 |
| 3.2.1 踪迹抽取算法 | 第39-44页 |
| 3.2.2 合并相关踪迹 | 第44-46页 |
| 3.3 缺陷代码特征挖掘 | 第46-52页 |
| 3.3.1 频繁模式挖掘 | 第47-52页 |
| 3.3.2 代码模式特征分析 | 第52页 |
| 3.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 第四章 框架实现与实验结果 | 第53-59页 |
| 4.1 挖掘框架的设计与实现 | 第53-56页 |
| 4.2 实验结果 | 第56-58页 |
| 4.3 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 总结与展望 | 第59-60页 |
| 5.1 研究工作总结 | 第59页 |
| 5.2 展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 作者攻读学位期间发表的学术论文 | 第63页 |
