基于0.18μm CMOS工艺的比较器设计
| 中文摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第7-13页 |
| 1.1 课题研究的目的与意义 | 第7-8页 |
| 1.2 比较器的技术发展现状与发展趋势 | 第8-11页 |
| 1.3 主要工作和论文体系结构 | 第11-13页 |
| 第2章 比较器的工作原理与分类 | 第13-28页 |
| 2.1 ADC电路概述 | 第13-14页 |
| 2.2 比较器的工作原理 | 第14-15页 |
| 2.3 比较器的性能参数 | 第15-19页 |
| 2.3.1 静态特性 | 第16-17页 |
| 2.3.2 动态特性 | 第17-19页 |
| 2.4 比较器的分类 | 第19-27页 |
| 2.4.1 开环比较器 | 第20-22页 |
| 2.4.2 迟滞比较器 | 第22-23页 |
| 2.4.3 开关电容比较器 | 第23-25页 |
| 2.4.4 可再生比较器 | 第25-26页 |
| 2.4.5 比较器分类的性能比较 | 第26-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 比较器的设计与仿真 | 第28-43页 |
| 3.1 设计方案 | 第28页 |
| 3.2 差分放大器设计仿真 | 第28-33页 |
| 3.3 锁存比较器设计仿真 | 第33-37页 |
| 3.4 输出放大级设计 | 第37-38页 |
| 3.5 比较器整体仿真 | 第38-42页 |
| 3.5.1 比较器的功能仿真 | 第39-40页 |
| 3.5.2 比较器的精度仿真 | 第40-42页 |
| 3.5.3 比较器传输延时仿真 | 第42页 |
| 3.6 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 版图设计 | 第43-50页 |
| 4.1 版图设计规则 | 第43-44页 |
| 4.2 模拟电路的版图技术 | 第44-47页 |
| 4.2.1 叉指晶体管 | 第44-45页 |
| 4.2.2 对称性 | 第45-46页 |
| 4.2.3 参考源的分布 | 第46-47页 |
| 4.3 版图绘制 | 第47-49页 |
| 4.4 本章小结 | 第49-50页 |
| 结论 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
