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一种12位逐次逼近模数转换器的研究与设计

摘要第5-6页
Abstract第6页
第1章 绪论第10-16页
    1.1 本文研究的背景和意义第10-11页
    1.2 国内外研究现状及发展趋势第11-14页
        1.2.1 国外研究概况第11-13页
        1.2.2 国内研究概况第13页
        1.2.3 SAR ADC的发展趋势第13-14页
    1.3 本文的研究内容第14-16页
第2章 SAR ADC的理论基础第16-26页
    2.1 ADC的基本原理和性能指标第16-21页
        2.1.1 ADC的基本原理第16-17页
        2.1.2 ADC的性能指标第17-21页
    2.2 常见的ADC结构第21-26页
        2.2.1 全并行ADC第21-22页
        2.2.2 流水线ADC第22-23页
        2.2.3 逐次逼近ADC第23-24页
        2.2.4 过采样ADC第24-25页
        2.2.5 时间交织ADC第25-26页
第3章 SAR ADC的关键模块研究第26-50页
    3.1 DAC第26-36页
        3.1.1 DAC的特性第26-28页
        3.1.2 DAC的结构第28-31页
        3.1.3 DAC的误差分析第31-35页
        3.1.4 误差校正方法第35-36页
    3.2 比较器第36-50页
        3.2.1 比较器的特性第36-38页
        3.2.2 比较器的典型结构第38-42页
        3.2.3 失调电压分析第42-46页
        3.2.4 失调电压校正方法第46-50页
第4章 12位 0.83 MS/s SAR ADC的电路设计第50-70页
    4.1 ADC的整体结构第50页
    4.2 SoC中的设计考虑第50-51页
        4.2.1 模拟和数字电路协同工作第50-51页
        4.2.2 省电设计第51页
    4.3 DAC设计第51-57页
        4.3.1 DAC电路设计第51-54页
        4.3.2 校正电路设计第54-57页
    4.4 比较器设计第57-63页
        4.4.1 比较器电路设计第57-61页
        4.4.2 失调抵消及时序设计第61-63页
    4.5 数字控制逻辑第63-66页
        4.5.1 逐次逼近寄存器第63-64页
        4.5.2 控制逻辑第64-66页
    4.6 其他模块第66-67页
    4.7 电路仿真第67-70页
第5章 SAR ADC版图设计与芯片测试第70-84页
    5.1 SAR ADC版图第70-75页
        5.1.1 混合信号版图设计准则第70-71页
        5.1.2 SAR ADC版图设计第71-75页
    5.2 SAR ADC芯片测试第75-84页
        5.2.1 测试准备第75-76页
        5.2.2 测试方案第76-77页
        5.2.3 测试结果第77-84页
结论第84-86页
参考文献第86-90页
攻读学位期间发表论文与研究成果清单第90-92页
致谢第92页

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