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基于SPC的六西格玛方法在电子制造业中的应用

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第一章 绪论第10-15页
    1.1 研究背景与意义第10-11页
    1.2 国内外文献综述第11-12页
    1.3 研究思路与框架第12-13页
    1.4 研究方法第13-15页
第二章 六西格玛相关理论介绍第15-23页
    2.1 六西格玛方法简介第15-19页
        2.1.1 六西格玛含义第15-16页
        2.1.2 六西格玛改进方法第16-18页
        2.1.3 六西格玛设计方法第18页
        2.1.4 精益六西格玛第18-19页
    2.2 统计过程控制相关理论第19-22页
        2.2.1 变异来源第19页
        2.2.2 统计过程控制概述第19-20页
        2.2.3 常用控制图介绍第20页
        2.2.4 控制图规则第20-22页
        2.2.5 控制限第22页
    2.3 本章小结第22-23页
第三章 六西格玛方法在STX公司的现状第23-31页
    3.1 STX公司的简介第23页
    3.2 六西格玛方法在STX公司的实践第23-25页
        3.2.1 六西格玛改进在STX公司的应用和推进第23-24页
        3.2.2 STX公司WX工厂现有的六西格玛方法第24-25页
    3.3 六西格玛方法在STX公司中存在的主要问题第25-30页
        3.3.1 六西格玛项目缺乏内源性改进第25-26页
        3.3.2 未能有效消除变异源第26-27页
        3.3.3 噪声因子与关键输入变量第27-28页
        3.3.4 FMEA未能帮助有效识别高风险因子第28页
        3.3.5 潜在的待验证的KPIVs覆盖面不够第28-29页
        3.3.6 控制图运用失调第29-30页
    3.4 本章小结第30-31页
第四章 基于SPC的六西格玛方法第31-39页
    4.1 基于SPC的六西格玛方法概述第31-32页
    4.2 基于SPC的六西格玛方法第32-38页
        4.2.1 选择合适的控制图第32页
        4.2.2 确定控制限、抽样方案和控制图判定规则第32-33页
        4.2.3 试运行阶段以消除异常波动源第33-35页
        4.2.4 通过FMEA等相关矩阵分析, 确定潜在的关键输入变量第35-36页
        4.2.5 以统计推断的方法来进行验证第36-37页
        4.2.6 选定最佳的因子水平,提出改进方案第37页
        4.2.7 实施改进方案,确认结果第37-38页
    4.3 本章小结第38-39页
第五章 基于SPC的六西格玛方法案例分析第39-60页
    5.1 基于SPC的六西格玛方法在STX公司的实践准备第39-40页
    5.2 基于SPC驱动的六西格玛方法实例第40-58页
        5.2.1 选定合适的控制图第40页
        5.2.2 确定SPC抽样方案、规格限和判定规则第40-43页
        5.2.3 消除波动源第43-45页
        5.2.4 确认潜在的关键流程输入变量第45-49页
        5.2.5 统计推断,验证关键输入因素第49-53页
        5.2.6 确定最佳因子水平,实施改进方案第53-57页
        5.2.7 实施改进,确认改进结果第57-58页
    5.3 案例总结第58-59页
    5.4 本章小结第59-60页
第六章 结论与展望第60-62页
    6.1 结论第60页
    6.2 展望第60-62页
参考资料第62-64页
致谢第64-65页
攻读学位期间发表的学术论文目录第65页

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