| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第8-9页 |
| 1.2 圆极化SIW缝隙天线的研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3 论文的内容与结构安排 | 第11-13页 |
| 2 SIW缝隙天线设计基础 | 第13-30页 |
| 2.1 SIW的基本理论 | 第13-18页 |
| 2.1.1 SIW的基本结构 | 第13页 |
| 2.1.2 SIW与介质波导的等效性分析 | 第13-15页 |
| 2.1.3 SIW各参数的选择以及对性能的影响 | 第15-18页 |
| 2.1.3.1 SIW的宽度a对SIW性能的影响 | 第15-17页 |
| 2.1.3.2 SIW的厚度b对SIW性能的影响 | 第17-18页 |
| 2.2 SIW与传输线的转换形式 | 第18-22页 |
| 2.2.1 SIW-微带线的锥形过渡转换结构 | 第18-20页 |
| 2.2.2 SIW-共面波导转换结构 | 第20-21页 |
| 2.2.3 SIW-标准波导的转换结构 | 第21-22页 |
| 2.3 宽边纵缝单元归一化导纳与S参数的关系 | 第22-23页 |
| 2.4 SIW缝隙天线仿真及分析 | 第23-29页 |
| 2.4.1 1×4阵元SIW缝隙天线仿真及分析 | 第24-27页 |
| 2.4.2 SIW缝隙阵列的两种设计对比 | 第27-29页 |
| 2.5 本章小结 | 第29-30页 |
| 3 Ka波段SIW馈电的分裂贴片阵列天线的设计 | 第30-41页 |
| 3.1 波导馈圆极化分裂贴片 | 第30-31页 |
| 3.2 SIW馈圆极化贴片单元的设计 | 第31-37页 |
| 3.2.1 SIW馈圆极化贴片单元结构 | 第31-32页 |
| 3.2.2 单元参数分析 | 第32-36页 |
| 3.2.2.1 辐射贴片对单元导纳特性和圆极化特性的影响 | 第32-35页 |
| 3.2.2.2 馈电缝隙对导纳特性和对圆极化性能的影响 | 第35-36页 |
| 3.2.3 单元仿真结果 | 第36-37页 |
| 3.3 SIW-共面波导-微带线转换结构设计 | 第37-38页 |
| 3.4 1×8均匀直线阵列的设计 | 第38-40页 |
| 3.4.1 一维直线阵结构 | 第38页 |
| 3.4.2 阵列仿真结果 | 第38-40页 |
| 3.5 本章总结 | 第40-41页 |
| 4 SIW馈电的双频双圆极化共口径阵列天线设计 | 第41-60页 |
| 4.1 波导背腔圆极化天线和post-wall双频双45 °线极化天线 | 第41-42页 |
| 4.2 SIW馈电单元的设计 | 第42-46页 |
| 4.2.1 SIW单元结构的介绍 | 第42-43页 |
| 4.2.2 SIW腔体尺寸对导纳特性和圆极化性能的影响 | 第43-44页 |
| 4.2.3 十字缝隙宽度对轴比带宽的影响 | 第44-45页 |
| 4.2.4 单元仿真结果 | 第45-46页 |
| 4.3 1×8均匀直线阵列的设计 | 第46-48页 |
| 4.3.1 一维直线阵列结构 | 第46-47页 |
| 4.3.2 线阵仿真分析 | 第47-48页 |
| 4.4 功分器的设计 | 第48-50页 |
| 4.5 4×8平面阵的设计 | 第50-51页 |
| 4.6 双频双圆极化阵列设计 | 第51-55页 |
| 4.6.1 双频双圆极化阵列结构 | 第52页 |
| 4.6.2 面阵最终的最终的优化参数 | 第52-53页 |
| 4.6.3 面阵仿真结果 | 第53-55页 |
| 4.7 测试结果与分析 | 第55-59页 |
| 4.7.1 S参数的测试 | 第56页 |
| 4.7.2 天线远场圆极化轴比的测量 | 第56-59页 |
| 4.7.2.1 测量环境介绍 | 第56-57页 |
| 4.7.2.2 圆极化天线测试步骤 | 第57-58页 |
| 4.7.2.3 双频双圆极化天线的测试结果与分析 | 第58-59页 |
| 4.8 本章小结 | 第59-60页 |
| 结束语 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 附录 | 第66页 |
