基于像面干涉的高光谱显微成像技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-15页 |
| ·研究背景 | 第7-8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-13页 |
| ·本论文的主要研究内容 | 第13-15页 |
| 2 高光谱显微成像的基本理论 | 第15-31页 |
| ·干涉成像光谱技术理论 | 第15-18页 |
| ·基本原理 | 第16-18页 |
| ·技术优点 | 第18页 |
| ·高光谱显微成像原理 | 第18-24页 |
| ·像面干涉原理 | 第18-19页 |
| ·成像光路模型 | 第19-21页 |
| ·主要参数分析 | 第21-24页 |
| ·光谱复原算法 | 第24-30页 |
| ·干涉数据提取 | 第24-28页 |
| ·光谱信息复原 | 第28-30页 |
| ·算法流程 | 第30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 3 高光谱显微成像样机的研制 | 第31-46页 |
| ·基本结构和工作原理 | 第31-32页 |
| ·系统方案 | 第32-42页 |
| ·显微物镜的选择 | 第32-33页 |
| ·推扫方式的选择 | 第33-34页 |
| ·剪切分束器的设计与研制 | 第34-42页 |
| ·系统集成 | 第42-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 4 测试实验与数据分析 | 第46-54页 |
| ·光谱定标实验与分析 | 第46-47页 |
| ·显微成像实验与分析 | 第47-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 5 结论与展望 | 第54-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-62页 |
| 附录 | 第62页 |