基于图像处理的工业X射线探伤关键技术研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
第一章 绪论 | 第8-16页 |
·数字图像处理技术简介 | 第8页 |
·数字图像处理概述 | 第8页 |
·数字图像处理的发展 | 第8页 |
·数字图像处理在无损检测中的应用 | 第8-11页 |
·无损检测技术 | 第8-9页 |
·射线检测技术 | 第9-10页 |
·数字图像处理在 X 射线检测中的应用 | 第10-11页 |
·研究现状和展望 | 第11-13页 |
·国内外研究现状 | 第11-12页 |
·新技术与展望 | 第12-13页 |
·研究目的及研究内容安排 | 第13-16页 |
·研究目的 | 第13页 |
·研究安排 | 第13-16页 |
第二章 工业 X 射线检测图像数字化中的问题 | 第16-26页 |
·X 射线检测系统的硬件组成 | 第16页 |
·图像格式的选择 | 第16-18页 |
·影响 X 射线检测图像质量的因素 | 第18-24页 |
·X 射线的影响 | 第18-21页 |
·图像增强器的影响 | 第21页 |
·数字化部分的影响 | 第21页 |
·改善图像质量的方法 | 第21-24页 |
·本章小结 | 第24-26页 |
第三章 图像预处理技术研究 | 第26-34页 |
·引言 | 第26页 |
·图像转换 | 第26页 |
·图像去噪 | 第26-29页 |
·线性滤波器 | 第26-28页 |
·中值滤波 | 第28-29页 |
·图像对比度增强 | 第29-32页 |
·线性变换 | 第30-31页 |
·非线性变换 | 第31页 |
·直方图均衡化 | 第31-32页 |
·本章小结 | 第32-34页 |
第四章 缺陷分割算法研究 | 第34-42页 |
·引言 | 第34页 |
·边缘检测法 | 第34-36页 |
·一阶微分算子 | 第34-35页 |
·二阶微分算子 | 第35-36页 |
·阈值分割 | 第36-40页 |
·最佳阈值法 | 第37页 |
·最大类间方差法 | 第37-38页 |
·一维交叉熵阈值法 | 第38-40页 |
·本章小结 | 第40-42页 |
第五章 缺陷的特征提取和识别 | 第42-60页 |
·缺陷的影像分析 | 第42-44页 |
·X 射线检测图像的特点 | 第42-43页 |
·常见焊件缺陷成像特征 | 第43-44页 |
·标记缺陷 | 第44-45页 |
·缺陷跟踪及缺陷填充算法设计 | 第45-51页 |
·多缺陷跟踪算法设计 | 第45-47页 |
·多缺陷跟踪算法实现 | 第47-49页 |
·多缺陷填充算法设计 | 第49页 |
·多缺陷填充算法实现 | 第49-51页 |
·缺陷特征参数的计算 | 第51-58页 |
·缺陷周长、面积的计算 | 第51-54页 |
·缺陷长轴、短轴的计算 | 第54-56页 |
·链码数的计算 | 第56-58页 |
·决策树方法识别缺陷 | 第58-59页 |
·本章小结 | 第59-60页 |
第六章 图像检测系统的设计与实现 | 第60-68页 |
·图像检测系统的整体结构 | 第60-62页 |
·图像检测系统的功能介绍 | 第60页 |
·图像检测子系统功能介绍 | 第60-62页 |
·图像检测实例分析 | 第62-68页 |
第七章 总结与展望 | 第68-70页 |
·总结 | 第68页 |
·展望 | 第68-70页 |
致谢 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-75页 |