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面向高性能CPU的锁相环低抖动技术研究

摘要第1-15页
ABSTRACT第15-19页
第一章 绪论第19-39页
   ·时钟产生部件的抖动第21-24页
   ·低抖动锁相环的研究现状第24-27页
   ·CPU片内工作环境的特点第27-31页
   ·课题的研究内容第31-35页
   ·课题研究的创新性与贡献第35-36页
   ·文章的组织构架第36-39页
第二章 面向CPU应用的电荷泵锁相环及抖动成因的分析第39-61页
   ·高性能CPU对锁相环的特殊需求第39-41页
   ·电荷泵锁相环的环路结构及其模型第41-45页
     ·离散时间系统模型第41-43页
     ·连续时间系统模型第43-45页
   ·电荷泵锁相环的稳定性第45-47页
   ·电荷泵锁相环的抖动性能第47-52页
     ·时钟抖动第47-50页
     ·相位噪声的来源及其传播第50-52页
   ·电路特性对电荷泵锁相环抖动性能的影响第52-59页
     ·电源噪声对电荷泵锁相环输出时钟抖动的影响第53-55页
     ·偏置电流/电压对电荷泵锁相环电路稳定性的影响第55-57页
     ·器件电子噪声对锁相环输出抖动的影响第57-59页
   ·本章小结第59-61页
第三章 快速响应LDO技术第61-87页
   ·PLL的供电技术第61-63页
   ·基本LDO第63-65页
   ·电流控制型LDO结构——CCL-LDO第65-67页
   ·CCL-LDO的传输模型及动态最优参数第67-70页
   ·CCL-LDO的电路结构第70-72页
   ·跨导放大器OTA的动态最优过程第72-74页
   ·物理实现第74-81页
     ·CCL-LDO的版图及八边形网格状结构的功率晶体管第74-77页
     ·物理实现的效果第77-81页
   ·CCL-LDO对电荷泵锁相环抖动性能的贡献第81-85页
     ·CCL-LDO作用于环路滤波器第81-83页
     ·CCL-LDO作用于压控振荡器第83-85页
   ·本章小结第85-87页
第四章 高稳定性基准源技术第87-111页
   ·基础带隙基准源及其稳定性分析第88-90页
   ·与温度无关的基准电压/电流产生方法第90-94页
     ·PTAT电流的产生与电阻补偿第90-91页
     ·CTAT电流的产生第91-94页
   ·输出可配置的带隙基准电压/电流源第94-99页
     ·trimming修正第95-97页
     ·输出可配置的基准电流/电压源结构第97-99页
   ·基极电流二阶曲率补偿的带隙基准电压源第99-106页
     ·“发射极-基极”电流分流作用的影响第100-103页
     ·“发射极-基极”电流的补偿第103-104页
     ·电源抑制效果第104-106页
   ·基准源性能提升对锁相环抖动性能的贡献第106-109页
   ·本章小结第109-111页
第五章 低抖动VCO技术第111-147页
   ·双环互锁结构的单端VCO第112-118页
     ·单端VCO的平均工作电流第112-114页
     ·单端VCO的本征抖动现象第114-117页
     ·利用双环互锁技术平衡平均工作电流第117-118页
   ·前馈自交叉式单端VCO第118-135页
     ·“平均工作电流”模型的不足第118-119页
     ·特殊的“偶数级”单端环振——前馈自交叉结构第119-122页
     ·前馈自交叉的振荡特性分析第122-125页
     ·前馈自交叉环振的线性度分析第125-127页
     ·前馈自交叉环振的本征抖动第127-132页
     ·基于有源器件衰减器的前馈自交叉VCO第132-135页
   ·VCO内建滤波技术第135-144页
     ·穿过VCO的噪声通路第135-138页
     ·VCO的内建抗噪声电路模型第138-142页
     ·内建LC滤波器的VCO第142-144页
   ·本章小结第144-147页
第六章 低抖动锁相环的设计实现及抖动性能对比第147-153页
   ·基础锁相环的结构及其抖动特性第147-149页
   ·低抖动锁相环实现及其抖动特性第149-151页
   ·本章小结第151-153页
第七章 研究总结与技术展望第153-159页
   ·研究总结第153-156页
   ·技术展望第156-159页
致谢第159-161页
参考文献第161-175页
作者在学期间取得的学术成果第175-181页
附录A 缩略语表第181-182页

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