高速任意波形合成关键技术研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-27页 |
| ·研究背景 | 第12-17页 |
| ·国内外研究状况 | 第17-24页 |
| ·提高采样率 | 第17-18页 |
| ·提高存储容量 | 第18-20页 |
| ·DDS 误差分析与改善 | 第20-22页 |
| ·相位控制与多通道精密同步 | 第22-24页 |
| ·本论文的主要工作 | 第24-25页 |
| ·本论文的章节安排 | 第25-27页 |
| 第二章 多DDS 并行合成方法研究 | 第27-55页 |
| ·直接数字合成技术 | 第27-37页 |
| ·DDWS 直接数字波形合成技术 | 第27-28页 |
| ·DDFS 直接数字频率合成技术 | 第28-29页 |
| ·基于DDFS 和DDWS 的任意波形合成技术 | 第29-31页 |
| ·DDS 的采样模型 | 第31-37页 |
| ·基于并行存储的任意波形合成技术 | 第37-40页 |
| ·并行存储任意波形合成原理 | 第37-39页 |
| ·频率控制字与频率分辨率分析 | 第39-40页 |
| ·基于插值模式的任意波形合成技术 | 第40-54页 |
| ·真插值任意波形合成技术 | 第41-43页 |
| ·伪插值任意波形合成技术 | 第43-51页 |
| ·实验验证 | 第51-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第三章 伪插值任意波形合成误差分析及校正 | 第55-90页 |
| ·伪插值任意波形合成的误差来源与误差模型 | 第55-56页 |
| ·多路DDS 并行伪插值DAC 保持特性误差分析 | 第56-68页 |
| ·DAC 保持特性对伪插值输出的影响 | 第56-59页 |
| ·基于FIR 滤波器的伪插值幅频特性补偿 | 第59-68页 |
| ·时钟相位偏差误差分析 | 第68-74页 |
| ·时钟相位偏差对输出频谱的影响 | 第68-73页 |
| ·实验验证 | 第73-74页 |
| ·相位截断误差分析与校正 | 第74-82页 |
| ·伪插值相位截断谱分析 | 第74-78页 |
| ·具有相位截断的伪插值输出信号频谱分布 | 第78页 |
| ·相位截断误差实验验证 | 第78-80页 |
| ·相位截断误差优化方法研究 | 第80-81页 |
| ·相位截断优化实验验证 | 第81-82页 |
| ·幅度量化误差 | 第82-88页 |
| ·幅度量化误差谱分析 | 第82-85页 |
| ·实验验证 | 第85-88页 |
| ·本章小结 | 第88-90页 |
| 第四章 精密相位调节与多通道同步技术 | 第90-105页 |
| ·多通道任意波形合成相位控制方法分析 | 第90-93页 |
| ·多通道精密同步技术 | 第93-102页 |
| ·系统内通道同步条件 | 第94-96页 |
| ·精密同步技术研究 | 第96-102页 |
| ·实验验证 | 第102-104页 |
| ·本章小结 | 第104-105页 |
| 第五章 “可持续”任意波形合成技术 | 第105-122页 |
| ·大容量任意波形合成技术 | 第105-107页 |
| ·序列合成技术 | 第107-109页 |
| ·“可持续”任意波形合成技术 | 第109-121页 |
| ·整体方案 | 第110-112页 |
| ·数据定时传送参数计算 | 第112-113页 |
| ·宽带可变时钟发生技术 | 第113-116页 |
| ·实验验证 | 第116-121页 |
| ·本章小结 | 第121-122页 |
| 第六章 全文总结与展望 | 第122-124页 |
| ·全文总结 | 第122-123页 |
| ·下一步工作展望 | 第123-124页 |
| 致谢 | 第124-125页 |
| 参考文献 | 第125-133页 |
| 攻博期间取得的研究成果 | 第133-134页 |
