高分辨率光谱成像仪的光学系统设计与杂散光分析
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-20页 |
| ·引言 | 第8-9页 |
| ·光谱成像仪的发展 | 第9-16页 |
| ·色散型光谱成像仪的发展及概况 | 第9-11页 |
| ·干涉型光谱成像仪发展及概况 | 第11-16页 |
| ·光谱成像仪比较 | 第16-18页 |
| ·本论文的主要内容及工作 | 第18-20页 |
| 第二章 光学系统设计 | 第20-49页 |
| ·光谱成像仪光学系统技术指标和方案选择 | 第20-26页 |
| ·光学系统技术指标确定 | 第20-22页 |
| ·干涉光谱成像技术方案选择 | 第22-23页 |
| ·光学系统结构分析 | 第23-24页 |
| ·前置镜光学系统方案 | 第24-26页 |
| ·准置镜和成像镜光学系统方案 | 第26页 |
| ·前置镜光学系统设计 | 第26-36页 |
| ·设计指标 | 第26-27页 |
| ·共轴三反像差理论与公式的推导 | 第27-31页 |
| ·离轴三镜反射式光学系统的类型 | 第31-33页 |
| ·前置镜光学系统的优化设计 | 第33-36页 |
| ·准直镜和成像镜设计 | 第36-42页 |
| ·设计指标 | 第37页 |
| ·二级光谱的校正 | 第37-40页 |
| ·准直镜和成像镜光学系统的结构选型与设计 | 第40-42页 |
| ·横向剪切干涉仪设计 | 第42-47页 |
| ·Sagnac干涉仪的工作原理 | 第42-43页 |
| ·横向剪切干涉仪技术指标 | 第43页 |
| ·Sagnac干涉仪外形尺寸计算 | 第43-47页 |
| ·高分辨率成像光谱仪全光学系统 | 第47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 第三章 杂散光分析 | 第49-66页 |
| ·杂光分析的主要软件和计算方法 | 第49-50页 |
| ·杂散光分析的基本思路 | 第50-58页 |
| ·光学系统的散射表面 | 第51-52页 |
| ·主要杂散光传输路径 | 第52页 |
| ·双向散射分布函数BSDF | 第52-55页 |
| ·杂光抑制能力评价指标 | 第55-58页 |
| ·杂光抑制的方法 | 第58-62页 |
| ·遮光罩的设计 | 第58-60页 |
| ·挡光环设计 | 第60-62页 |
| ·系统的建模与仿真 | 第62-64页 |
| ·本章小结 | 第64-66页 |
| 第四章 总结与展望 | 第66-70页 |
| ·本文所做的主要工作 | 第66-68页 |
| ·光学系统设计部分 | 第66-67页 |
| ·杂光分析部分 | 第67-68页 |
| ·展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 发表或已录用论文 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
