超高频RFID标签受环境影响研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| ·射频识别技术的历史与现状 | 第10-12页 |
| ·选题背景及意义 | 第12-13页 |
| ·课题研究的软件平台 | 第13-14页 |
| ·本文的主要内容 | 第14-15页 |
| 第2章 RFID 系统及标准 | 第15-26页 |
| ·RFID 系统原理 | 第15-18页 |
| ·RFID 系统工作方式 | 第15-16页 |
| ·RFID 系统频段特征 | 第16-18页 |
| ·标签 | 第18-19页 |
| ·阅读器 | 第19-21页 |
| ·RFID 相关标准 | 第21-25页 |
| ·标准概述 | 第21-22页 |
| ·技术标准 | 第22-23页 |
| ·应用标准 | 第23-24页 |
| ·数据内容标准 | 第24页 |
| ·性能标准 | 第24-25页 |
| ·小结 | 第25-26页 |
| 第3章 标签天线理论及仿真 | 第26-42页 |
| ·标签天线理论基础 | 第26-36页 |
| ·天线辐射场 | 第26-28页 |
| ·天线性能参数 | 第28-32页 |
| ·标签天线的工作原理 | 第32-36页 |
| ·标签天线仿真分析 | 第36-41页 |
| ·矩量法原理 | 第36-38页 |
| ·电场积分方程 | 第38-39页 |
| ·仿真分析 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 RFID 系统受环境影响分析 | 第42-59页 |
| ·标签测试需求研究 | 第42页 |
| ·实验测试平台 | 第42-43页 |
| ·标签性能测试 | 第43-47页 |
| ·标签读取距离测试 | 第43-45页 |
| ·标签读取率测试 | 第45-46页 |
| ·标签灵敏度测试 | 第46-47页 |
| ·环境对标签影响研究 | 第47-58页 |
| ·金属影响研究 | 第48-51页 |
| ·液体影响研究 | 第51-56页 |
| ·各种材料背景的读写距离与读取率测试 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 结论与展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 附录 A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第65页 |
