剩余电流断路器检测装置的研制
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| ·课题背景 | 第10-12页 |
| ·剩余电流断路器检测装置和技术的发展状况 | 第12-13页 |
| ·检测装置中测试源的发展概况 | 第13-14页 |
| ·DDS技术的发展现状及前景 | 第14-17页 |
| ·本文研究的主要内容和意义 | 第17页 |
| ·课题研制的主要技术指标 | 第17-18页 |
| ·本文的主要工作及论文内容的安排 | 第18-20页 |
| 第二章 以DDS技术为核心的检测装置设计理论依据 | 第20-28页 |
| ·DDS的基本结构与基本原理 | 第20-21页 |
| ·DDS技术的主要性能指标 | 第21-23页 |
| ·实现DDS技术的三种可行方案 | 第23-26页 |
| ·DDS技术在检测装置中的应用 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 基于DDS的检测装置的硬件设计 | 第28-48页 |
| ·引言 | 第28-38页 |
| ·系统的总体设计方案 | 第28-29页 |
| ·AD9850芯片简介 | 第29-35页 |
| ·单片机简介 | 第35-38页 |
| ·硬件电路设计 | 第38-47页 |
| ·计算机与单片机的串行接口设计 | 第38-41页 |
| ·单片机控制AD9850的频率合成设计 | 第41-42页 |
| ·电流放大电路设计 | 第42-44页 |
| ·电流检测电路设计 | 第44-45页 |
| ·键盘与显示电路设计 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 检测装置输出信号的PID控制 | 第48-55页 |
| ·系统闭环控制的意义 | 第48页 |
| ·PID控制算法介绍 | 第48-49页 |
| ·数字PID控制算法 | 第49-54页 |
| ·数字PID控制的基本原理 | 第49-52页 |
| ·PID控制器的参数整定 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 检测装置系统的软件设计 | 第55-67页 |
| ·用C语言开发单片机的优势 | 第55-56页 |
| ·PIC开发环境 | 第56页 |
| ·系统的软件设计总体流程 | 第56-57页 |
| ·系统各部分程序模块设计 | 第57-66页 |
| ·键盘扫描模块设计 | 第58-59页 |
| ·液晶显示模块设计 | 第59-60页 |
| ·DDS程序设计 | 第60-62页 |
| ·A/D转换模块设计 | 第62-63页 |
| ·PID控制算法程序设计 | 第63页 |
| ·数据处理模块设计 | 第63-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 系统实验调试结果与分析 | 第67-72页 |
| ·调试前的准备工作 | 第67-68页 |
| ·系统调试 | 第68-69页 |
| ·硬件调试 | 第68-69页 |
| ·软件调试 | 第69页 |
| ·系统联调 | 第69页 |
| ·系统测试结果分析 | 第69-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第七章 总结与展望 | 第72-74页 |
| ·工作总结 | 第72-73页 |
| ·改进及后续工作 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 在学研究成果 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
