自支撑GaN衬底的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-17页 |
| §1.1 GaN的晶体结构及其性质 | 第7-9页 |
| §1.2 GaN材料的应用 | 第9-10页 |
| §1.3 GaN材料的制备方法及其进展 | 第10-16页 |
| §1.4 本文研究目的及内容 | 第16-17页 |
| 第二章 MOCVD生长2μm GaN/Si | 第17-24页 |
| §2.1 Si衬底上生长GaN的难点 | 第17页 |
| §2.2 解决办法 | 第17-19页 |
| §2.3 MOCVD设备 | 第19-22页 |
| §2.4 2μm GaN/Si的生长条件 | 第22-24页 |
| 第三章 GaN薄膜的剥离及性质研究 | 第24-35页 |
| §3.1 剥离分析 | 第24-26页 |
| §3.2 GaN的剥离实验 | 第26页 |
| §3.3 GaN品质测量仪器 | 第26-29页 |
| §3.4 GaN剥离前后的性质研究对比 | 第29-34页 |
| §3.5 小结 | 第34-35页 |
| 第四章 GaN厚膜的HVPE生长 | 第35-41页 |
| §4.1 HVPE原理 | 第35页 |
| §4.2 HVPE系统结构 | 第35-39页 |
| §4.3 GaN厚膜的生长分析 | 第39-40页 |
| §4.4 自支撑GaN的生长条件及结果 | 第40-41页 |
| 第五章 结论 | 第41-42页 |
| 致谢 | 第42-43页 |
| 参考文献 | 第43-44页 |