PCU03-ABS芯片A/D模块测试程序开发
| 中文摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-9页 |
| ·引言 | 第6-7页 |
| ·课题产生的背景和目的 | 第7页 |
| ·测试产业的发展 | 第7页 |
| ·课题目的 | 第7页 |
| ·本课题研究内容和完成工作 | 第7-9页 |
| 第二章 PCU03_ABS 芯片简介 | 第9-12页 |
| ·ABS 简介 | 第9页 |
| ·PCU03_ABS 芯片简介 | 第9-12页 |
| 第三章 FELX系统和IG-XL软件平台 | 第12-28页 |
| ·测试系统组成 | 第12页 |
| ·测试系统FLEX | 第12-17页 |
| ·测试系统软件IG-XL | 第17-22页 |
| ·测试系统软件IG-XL 简介 | 第17-18页 |
| ·IG-XL 程序开发 | 第18-22页 |
| ·面向对象的编程VBT | 第22-28页 |
| ·VBA 介绍 | 第22-24页 |
| ·VBT 编程 | 第24-28页 |
| 第四章 ADC测试原理与算法改进 | 第28-41页 |
| ·ADC 统计特性 | 第28-31页 |
| ·ADC 静态测试参数 | 第31-36页 |
| ·精度 | 第31页 |
| ·分辨率和量化误差 | 第31页 |
| ·失调误差 | 第31-32页 |
| ·增益误差 | 第32-33页 |
| ·DNL 误差 | 第33-34页 |
| ·INL 误差 | 第34-36页 |
| ·ADC 码临界测试算法 | 第36-41页 |
| 第五章 ADC模块测试程序设计与实现 | 第41-56页 |
| ·芯片测试综述 | 第41-46页 |
| ·芯片测试的主要环节 | 第42-45页 |
| ·测试分类 | 第45-46页 |
| ·ADC 模块描述 | 第46-47页 |
| ·ADC 模块标称值 | 第47页 |
| ·ADC 模块工作特性 | 第47-48页 |
| ·A/D 转换寄存器的地址 | 第48-49页 |
| ·PCU_03 芯片ADC 模块测试 | 第49-56页 |
| ·ADC 模块测试程序设计 | 第49-50页 |
| ·测试步骤 | 第50-51页 |
| ·ADC 测试程序流程图 | 第51页 |
| ·测试程序 | 第51-56页 |
| 第六章 测试结论 | 第56-59页 |
| ·部分测试结果 | 第56页 |
| ·测试结果分析 | 第56-59页 |
| ·测试效率分析 | 第56-57页 |
| ·稳定性分析 | 第57-59页 |
| 结束语 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第62-63页 |
| 附录 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
