| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-12页 |
| ·课题的来源 | 第9页 |
| ·测试夹持杆衰减涂层沿轴分布的意义 | 第9页 |
| ·国内国外的研究现状 | 第9-10页 |
| ·论文的研究内容 | 第10页 |
| ·论文构成 | 第10-12页 |
| 第二章 设计测试系统的理论依据 | 第12-16页 |
| ·S 参数的含义 | 第12-13页 |
| ·微波网络法 | 第12页 |
| ·S 参数法 | 第12-13页 |
| ·本测试系统的理论依据 | 第13-14页 |
| ·本测试系统的测试模型 | 第14-15页 |
| ·本章小结 | 第15-16页 |
| 第三章 整个测试系统的构建 | 第16-28页 |
| ·测试系统的总体构成 | 第16-17页 |
| ·测试系统的传动装置 | 第17-19页 |
| ·测试系统的微波传输部分 | 第19-23页 |
| ·测试传感器和滤波器 | 第19-20页 |
| ·频率综合器 | 第20-21页 |
| ·定向导向装置 | 第21-22页 |
| ·标量网络分析仪 | 第22-23页 |
| ·测试系统的控制部分 | 第23-27页 |
| ·PC104 主板 | 第25-26页 |
| ·采集卡 | 第26-27页 |
| ·时序控制卡 | 第27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第四章 时序控制卡的设计 | 第28-50页 |
| ·时序控制卡的功能与总体结构 | 第28-29页 |
| ·时序控制卡的功能 | 第28页 |
| ·时序控制卡的总体结构 | 第28-29页 |
| ·时序控制卡模拟电路部分 | 第29-39页 |
| ·6 路信号放大、滤波 | 第29-30页 |
| ·ALC 回路 | 第30-39页 |
| ·ALC 回路的研制 | 第30-36页 |
| ·引入 ALC 回路后反射系数的测试结果 | 第36-39页 |
| ·时序控制卡数字电路部分 | 第39-41页 |
| ·时序控制卡的电源 | 第39页 |
| ·时序控制卡的核心控制电路 | 第39-40页 |
| ·时序控制卡的实物图 | 第40-41页 |
| ·时序控制卡的逻辑控制 | 第41-45页 |
| ·测量系统的工作时序 | 第41-43页 |
| ·时序控制卡的工作流程 | 第43-45页 |
| ·时序控制卡的程序代码 | 第45-49页 |
| ·程序主模块bujincontroller | 第45-46页 |
| ·时钟分频模块divclk | 第46-47页 |
| ·时序控制卡与上位机之间的通信模块addecoder | 第47-49页 |
| ·测量控制模块bujin | 第49页 |
| ·步进电机 S 步控制模块bujins | 第49页 |
| ·步进电机 N 步控制模块bujinn | 第49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第五章 测试系统的校准 | 第50-61页 |
| ·测试系统校准的意义 | 第50-51页 |
| ·校准的方式 | 第51-60页 |
| ·∣S_(21)∣与 U_3/U_1的关系曲线 | 第51-56页 |
| ·∣Sn∣与 U_2/U_1的关系曲线 | 第56-60页 |
| ·校准的实现 | 第60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第六章 测试过程和结果分析 | 第61-69页 |
| ·测试系统的软件 | 第61-66页 |
| ·软件主界面 | 第61页 |
| ·系统参数设置 | 第61-64页 |
| ·样品参数编辑 | 第64-65页 |
| ·测试 | 第65-66页 |
| ·软件测试的结果 | 第66-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第七章 结论 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-72页 |
| 附录 | 第72-79页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第79-80页 |