首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--通信论文--通信理论论文--相位锁定、锁相技术论文

抗辐射锁相环设计

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-10页
图表目录第10-13页
第一章 绪论第13-19页
   ·课题背景及意义第13-14页
   ·抗辐射锁相环国内外研究现状第14-16页
     ·锁相环技术国内外研究现状第14-15页
     ·抗辐射技术国内外研究现状第15-16页
   ·工作安排及研究内容第16-19页
第二章 锁相环建模与参数分解第19-29页
   ·各模块以及整体建模第19-21页
     ·鉴相器模块建模第19-20页
     ·低通滤波器模块建模第20页
     ·压控振荡器模块建模第20页
     ·整体环路传输函数第20-21页
   ·锁相环电路模块参数分解第21-24页
     ·整体传输函数第21-22页
     ·参数分解与计算第22-24页
   ·电路分解参数验证第24-29页
     ·Matlab 函数验证第24-26页
     ·Verilog-AMS 验证第26-29页
第三章 锁相环电路设计与改进第29-51页
   ·模块电路搭建第29-43页
     ·鉴相电路第29-30页
     ·电荷泵电路第30-34页
     ·滤波电路第34页
     ·分频电路第34-37页
     ·压控振荡电路第37-42页
     ·频率侦测电路第42-43页
   ·模块电路与整体电路改进第43-51页
     ·CP 电路改进第43-45页
     ·整体电路改进第45-49页
     ·改进仿真结果第49-51页
第四章 锁相环随机噪声分析第51-63页
   ·噪声分类第51-53页
   ·相位噪声的计算第53-55页
     ·噪声谱分析第53-54页
     ·相位噪声和抖动关系第54-55页
   ·各个模块噪声影响第55-60页
     ·基准输出噪声影响第55-56页
     ·分频器噪声影响第56页
     ·鉴频鉴相器噪声影响第56页
     ·电荷泵噪声影响第56页
     ·低通滤波器噪声影响第56-57页
     ·压控振荡器噪声影响第57-60页
   ·各个模块噪声仿真第60-63页
第五章 锁相环电路抗辐射设计与改进第63-77页
   ·空间辐射来源以及影响第63-66页
     ·辐射来源以及分类第63-64页
     ·总剂量效应原理第64-65页
     ·单粒子效应原理第65-66页
   ·电路抗辐射设计第66-70页
     ·DIV 电路加固第66-67页
     ·VCO 中偏置电路加固第67-68页
     ·CP 加固技术第68-69页
     ·CP 加固技术改进第69-70页
   ·整体电路测试结果第70-77页
第六章 锁相环版图设计与验证第77-93页
   ·工艺抗辐射设计第77-78页
   ·抗辐射版图处理第78-80页
     ·抗总剂量效应第78-80页
     ·抗单粒子闩锁效应第80页
   ·锁相环版图设计与验证第80-85页
     ·高速版图布局第81页
     ·高速版图布线第81-83页
     ·模块以及电路版图第83-84页
     ·版图验证第84-85页
   ·后仿数据指标与指标第85-93页
     ·后仿波形第85-88页
     ·抖动分析第88-90页
     ·数据分析第90-93页
第七章 结论与总结第93-95页
致谢第95-96页
参考文献第96-99页
攻硕期间取得的研究成果第99-100页

论文共100页,点击 下载论文
上一篇:OFDM数字无线图像传输系统的设计与实现
下一篇:基于液晶的非机械式ATP关键技术研究