| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| ·研究背景及现状 | 第8-11页 |
| ·研究背景 | 第8-10页 |
| ·研究现状 | 第10-11页 |
| ·研究对象、范围及意义 | 第11-12页 |
| ·研究对象 | 第11页 |
| ·研究范围 | 第11-12页 |
| ·研究意义 | 第12页 |
| ·研究思路及文章结构 | 第12-14页 |
| ·研究思路 | 第12页 |
| ·文章结构 | 第12-14页 |
| 2 统计过程控制 | 第14-22页 |
| ·思想和原理 | 第14-18页 |
| ·两类波动 | 第14页 |
| ·两种状态 | 第14-15页 |
| ·控制图 | 第15-18页 |
| ·自相关过程的统计过程控制 | 第18-22页 |
| ·过程的自相关性 | 第18页 |
| ·自相关性对控制图性能的影响 | 第18-19页 |
| ·自相关过程的控制图技术 | 第19-20页 |
| ·自相关过程与自动控制过程的监控技术比较 | 第20-22页 |
| 3 自动过程控制 | 第22-27页 |
| ·思想和原理 | 第22-23页 |
| ·概述 | 第22页 |
| ·离散反馈控制技术 | 第22-23页 |
| ·离散反馈控制方案的设计 | 第23-27页 |
| ·连续反馈控制方案 | 第23页 |
| ·离散反馈控制方案的设计 | 第23-27页 |
| 4 统计过程控制与自动过程控制的结合使用 | 第27-48页 |
| ·原理及逻辑框架 | 第27-28页 |
| ·原理 | 第27页 |
| ·逻辑框架 | 第27-28页 |
| ·基于IMA(1，1)模型的结合控制技术的理论分析 | 第28-37页 |
| ·IMA(1，1)模型介绍 | 第28-30页 |
| ·残差控制图分析 | 第30-35页 |
| ·累积和(CUSUM)残差控制图的设计 | 第35-36页 |
| ·最小均方误差(MMSE)控制器的设计 | 第36-37页 |
| ·基于IMA(1，1)模型的结合控制技术的仿真研究 | 第37-48页 |
| ·仿真说明 | 第37-38页 |
| ·λ=0.1的情况 | 第38-41页 |
| ·λ=0.5的情况 | 第41-43页 |
| ·λ=1.0的情况 | 第43-45页 |
| ·仿真研究总结 | 第45-48页 |
| 5 使用结合控制技术时需要考虑的几个问题 | 第48-51页 |
| ·统计过程控制方面的问题 | 第48-49页 |
| ·监控数据的选择 | 第48页 |
| ·控制图的选择 | 第48页 |
| ·控制图的性能评价与设计 | 第48-49页 |
| ·控制图的敏感性 | 第49页 |
| ·反馈控制方面的问题 | 第49-51页 |
| ·过度补偿问题 | 第49页 |
| ·过度调整问题 | 第49-50页 |
| ·有界调整问题 | 第50页 |
| ·控制器的敏感性 | 第50-51页 |
| 6 总结 | 第51-53页 |
| ·本文所讨论和解决的问题 | 第51页 |
| ·离散制造环境下 SPC与 APC相结合的原理的分析和模型的构建 | 第51页 |
| ·结合控制状态下控制图和控制器的设计 | 第51页 |
| ·结合控制技术与各自单独控制技术的比较研究 | 第51页 |
| ·需要进一步探讨和研究的问题 | 第51-53页 |
| ·监控方案的优化问题 | 第51-52页 |
| ·PID控制器的设计问题 | 第52页 |
| ·多元情况下的结合控制问题 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 附录 | 第57-65页 |
