低温低噪声放大器噪声测试系统
| 致谢 | 第1-5页 |
| 中文摘要 | 第5-6页 |
| 英文摘要 | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-13页 |
| ·低温低噪声放大器的应用 | 第7-8页 |
| ·低温 LNA噪声测试系统的意义 | 第8页 |
| ·低温 LNA噪声测试系统的设计方案及目标 | 第8-12页 |
| ·关于本文 | 第12-13页 |
| 第二章 噪声理论与噪声测量基础 | 第13-26页 |
| ·噪声的分类 | 第13-17页 |
| ·热噪声 | 第13-15页 |
| ·散粒噪声 | 第15-17页 |
| ·热噪声和散粒噪声的统计特性 | 第17-18页 |
| ·噪声的度量 | 第18-19页 |
| ·二端口网络的噪声测量 | 第19-25页 |
| ·噪声源 | 第21页 |
| ·Y因子法 | 第21-24页 |
| ·信号发生器噪声测试法和直接噪声测试法 | 第24-25页 |
| ·小结 | 第25-26页 |
| 第三章 低温低噪声放大器噪声测试系统硬件 | 第26-35页 |
| ·低温负载温度可变法 | 第26-27页 |
| ·低温衰减器法 | 第27-29页 |
| ·低温 LNA噪声测试系统框图及清单 | 第29-34页 |
| ·基于低温负载温度可变法的LNA噪声测试系统框图 | 第29-30页 |
| ·基于低温衰减器法的LNA噪声测试系统框图 | 第30-31页 |
| ·低温 LNA噪声测试系统清单 | 第31-34页 |
| ·小结 | 第34-35页 |
| 第四章 低温低噪声放大器噪声测试系统软件 | 第35-53页 |
| ·软件系统分析 | 第35-36页 |
| ·硬件的驱动 | 第36-39页 |
| ·软件系统流程 | 第39-42页 |
| ·VLT法测试流程 | 第39-41页 |
| ·CA法测试流程 | 第41-42页 |
| ·系统软件功能模块 | 第42-44页 |
| ·文件定义 | 第44-52页 |
| ·ENR文件 | 第45-46页 |
| ·校准文件 | 第46-47页 |
| ·插损文件 | 第47-49页 |
| ·测试文件 | 第49-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第五章 低温 LNA噪声测试结果及误差分析 | 第53-70页 |
| ·基于VLT法的低温LNA噪声测试结果 | 第53-56页 |
| ·基于CA法的低温LNA噪声测试结果 | 第56-58页 |
| ·VLT法测量误差分析 | 第58-66页 |
| ·随机误差 | 第58-61页 |
| ·系统误差 | 第61-65页 |
| ·避免或减小误差的措施 | 第65-66页 |
| ·CA法测量误差分析 | 第66-69页 |
| ·小结 | 第69-70页 |
| 第六章 低温 LNA噪声测试系统评估 | 第70-76页 |
| ·重复性及可靠性 | 第70-71页 |
| ·类似测试系统的比较 | 第71-74页 |
| ·系统的相关特性及其局限 | 第74-75页 |
| ·结论 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 附录A 主要中英文对照表 | 第78-79页 |
| 附录B 低温LNA噪声测试系统硬件安装及连接指南 | 第79-84页 |
| 附录C 负载回波损耗 | 第84-86页 |
| 附录D CA法中LNA输入端插损 | 第86-87页 |
