| 1 绪论 | 第1-13页 |
| 1．1 引言 | 第8页 |
| 1．2 课题研究的目的和意义 | 第8-10页 |
| 1．3 国内外的研究现状 | 第10-12页 |
| 1．4 课题运用的理论和方法分析 | 第12页 |
| 1．5 本课题完成的工作及研究内容 | 第12-13页 |
| 2 专用集成电路测试概述 | 第13-18页 |
| 2．1 测试流程 | 第13-14页 |
| 2．2 测试的目的 | 第14页 |
| 2．3 测试内容 | 第14-15页 |
| 2．4 测试方法 | 第15页 |
| 2．5 动态ASIC测试的特点 | 第15-16页 |
| 2．6 测试技术的发展方向 | 第16页 |
| 2．7 总结 | 第16-18页 |
| 3 专用集成电路HB0201、HB0202简述 | 第18-25页 |
| 3．1 HB0201功能概述 | 第18-21页 |
| 3．1．1 HB0201的功能框图 | 第18-19页 |
| 3．1．2 HB0201的性能指标 | 第19-20页 |
| 3．1．3 HB0201的工作流程 | 第20页 |
| 3．1．4 HB0201的引脚 | 第20-21页 |
| 3．2 HB0202功能简述 | 第21-24页 |
| 3．2．1 HB0202的功能框图 | 第21-22页 |
| 3．2．2 HB0202的性能指标 | 第22-23页 |
| 3．2．3 HB0202的工作流程 | 第23页 |
| 3．2．4 HB0202的引脚 | 第23-24页 |
| 3．3 HB0201与HB0202的实物图 | 第24-25页 |
| 4 检测系统的设计 | 第25-41页 |
| 4．1 专用集成电路的可测性 | 第25页 |
| 4．2 HB0201检测系统的设计 | 第25-33页 |
| 4．2．1 检测电路原理框图 | 第25-26页 |
| 4．2．2 检测电路的工作原理 | 第26-27页 |
| 4．2．3 检测电路的设计 | 第27-33页 |
| 4．3 HB0202检测系统的设计 | 第33-35页 |
| 4．3．1 检测电路原理框图 | 第33-34页 |
| 4．3．2 检测电路的工作原理 | 第34-35页 |
| 4．4 检测系统软件的设计 | 第35-40页 |
| 4．4．1 检测系统软件设计流程 | 第36页 |
| 4．4．2 软件功能模块分析 | 第36-37页 |
| 4．4．3 软件功能模块设计 | 第37-38页 |
| 4．4．4 HB0201编程 | 第38-39页 |
| 4．4．5 HB0202编程 | 第39-40页 |
| 4．5 总结 | 第40-41页 |
| 5 专用集成电路的检测 | 第41-57页 |
| 5．1 专用集成电路的检测说明 | 第41-46页 |
| 5．1．1 HB0201的检测说明 | 第41-45页 |
| 5．1．2 HB0202的检测说明 | 第45-46页 |
| 5．2 专用集成电路的检测 | 第46-50页 |
| 5．2．1 HB0201的检测 | 第46-48页 |
| 5．2．2 HB0202的检测 | 第48-50页 |
| 5．3 专用集成电路的老化筛选 | 第50-51页 |
| 5．4 专用集成电路的检测结果及分析 | 第51-52页 |
| 5．5 专用集成电路的可靠性 | 第52-56页 |
| 5．5．1 可靠性分析 | 第52-53页 |
| 5．2．2 可靠性建模 | 第53-56页 |
| 5．6 总结 | 第56-57页 |
| 6 专用集成电路的应用 | 第57-74页 |
| 6．1 存储测试技术和存储测试系统 | 第57-58页 |
| 6．2 存储测试对测试装置的要求 | 第58-59页 |
| 6．3 存储测试电路的设计 | 第59-67页 |
| 6．3．1 电荷放大器的设计 | 第59-64页 |
| 6．3．2 滤波器的设计 | 第64-65页 |
| 6．3．3 电路设计中注意的问题 | 第65-67页 |
| 6．4 专用集成电路HB0201、HB0202的具体应用 | 第67-73页 |
| 6．5 总结 | 第73-74页 |
| 7 信号发生器的设计 | 第74-79页 |
| 7．1 MAX038性能简介 | 第74-75页 |
| 7．2 信号发生器的具体设计 | 第75-78页 |
| 7．3 总结 | 第78-79页 |
| 结论 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-83页 |
| 攻读硕士期间发表论文及参与课题情况 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84页 |