干涉仪测试系统的改进及测量范围扩展的研究
绪论 | 第1-8页 |
1. 论文背景 | 第6-7页 |
2. 本论文做的工作 | 第7-8页 |
第一章 移相式数字平面干涉仪 | 第8-20页 |
1.1 移相干涉仪 | 第8-10页 |
1.1.1 概述 | 第8-9页 |
1.1.2 复原算法 | 第9-10页 |
1.2 改进的Φ80mm移相式泰曼干涉仪 | 第10-15页 |
1.2.1 成像系统的光照度 | 第12-15页 |
1.3 干涉图象的光强采集和处理 | 第15-19页 |
1.3.1 CCD的工作原理及参数 | 第15-18页 |
1.3.2 CCD视频信号处理 | 第18-19页 |
1.4 本章小结 | 第19-20页 |
第二章 光强自动调节系统 | 第20-39页 |
2.1 系统工作原理 | 第20-21页 |
2.2 变焦镜头的工作控制 | 第21-23页 |
2.2.1 变焦镜头控制 | 第21-22页 |
2.2.2 调整/测试切换 | 第22-23页 |
2.3 光强自适应调节 | 第23-38页 |
2.3.1 光电转换电路 | 第24-26页 |
2.3.2 A/D转换 | 第26-28页 |
2.3.2.1 A/D的选型依据 | 第26-27页 |
2.3.2.2 MAX154的工作特点及方式 | 第27-28页 |
2.3.3 数字信号处理器 | 第28-33页 |
2.3.3.1 概述 | 第28-29页 |
2.3.3.2 DSP芯片的基本结构 | 第29-31页 |
2.3.3.3 DSP系统的设计过程 | 第31页 |
2.3.3.4 TMS320F206的结构特点 | 第31-33页 |
2.3.4 F206的硬件设计 | 第33-35页 |
2.3.5 步进电机控制接口 | 第35-38页 |
2.4 本章小结 | 第38-39页 |
第三章 PID算法及其参数的整定 | 第39-50页 |
3.1 PID算法在自动控制中的应用 | 第39-42页 |
3.2 PID算法的程序设计 | 第42-43页 |
3.3 PID参数的整定方法 | 第43-49页 |
3.3.1 PID调节器参数对控制性能的影响 | 第44-47页 |
3.3.2 PID参数的确定 | 第47-49页 |
3.4 本章小结 | 第49-50页 |
第四章 系统调试和抗干扰技术 | 第50-57页 |
4.1 系统调试 | 第50-53页 |
4.1.1 电路调试 | 第50-53页 |
4.1.2 光路调试 | 第53页 |
4.2 抗干扰技术 | 第53-55页 |
4.2.1 接地 | 第53-54页 |
4.2.2 滤波 | 第54-55页 |
4.3 本章小结 | 第55-57页 |
第五章 全文总结 | 第57-58页 |
5.1 本文所做的工作及创新 | 第57页 |
5.2 有待解决和提高的问题 | 第57-58页 |
致谢 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-61页 |
附录A 系统电路图 | 第61-62页 |
附录B 系统实验板 | 第62-63页 |
附录C 步进电机、驱动器和渐变滤光片 | 第63-64页 |
附录D 改进的Φ80mm移相式泰曼干涉仪外型图 | 第64页 |