| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-7页 |
| 图表索引 | 第7-11页 |
| 符号及缩写注释表 | 第11-13页 |
| 目录 | 第13-18页 |
| 第一章 绪论 | 第18-23页 |
| 1．1 引言 | 第18页 |
| 1．2 激光产业发展现状 | 第18-19页 |
| 1．3 激光调阻机概述 | 第19-20页 |
| 1．4 激光调阻机的研究现状 | 第20-21页 |
| 1．5 激光调阻机研究的意义 | 第21页 |
| 1．6 本文主要研究的内容 | 第21-23页 |
| 第二章 激光调阻机快速实时检测原理研究 | 第23-56页 |
| 2．1 经典电桥检测原理 | 第23-24页 |
| 2．2 理想单臂电桥检测原理 | 第24-25页 |
| 2．3 低电阻检测原理 | 第25-28页 |
| 2．3．1 问题的提出 | 第25-26页 |
| 2．3．2 解决的思路 | 第26页 |
| 2．3．3 实现的方法 | 第26-28页 |
| 2．4 低电阻检测原理分析 | 第28-34页 |
| 2．4．1 时域分析 | 第28-31页 |
| 2．4．2 复域分析 | 第31-34页 |
| 2．5 高电阻检测原理 | 第34-41页 |
| 2．5．1 问题的提出 | 第34-35页 |
| 2．5．2 解决的思路 | 第35-36页 |
| 2．5．3 实现的方法 | 第36-39页 |
| 1． Rt低端漏电阻影响的消除 | 第36-38页 |
| 2． Rt高端漏电阻影响的消除 | 第38-39页 |
| 2．5．4 消除漏电阻的仿真 | 第39-40页 |
| 2．5．5 错误修正及改进方法 | 第40-41页 |
| 2．5．6 新的问题及折衷方案 | 第41页 |
| 2．6 高速该蚀电阻原理 | 第41-43页 |
| 2．6．1 高速刻蚀电阻原理 | 第41-42页 |
| 2．6．2 高速刻蚀电阻的步骤 | 第42-43页 |
| 2．7 CPU控制原理 | 第43-47页 |
| 2．7．1 检测与控制系统的地址空间分配 | 第43-45页 |
| 2．7．2 控制时序 | 第45-47页 |
| 2．8 DVS控制原理 | 第47-50页 |
| 2．9 AD控制原理 | 第50-51页 |
| 2．10 MTX控制原理 | 第51-53页 |
| 2．11 用Anderson环对检测方法改进的设想 | 第53-55页 |
| 2．11．1 Anderson环的检测原理 | 第54-55页 |
| 2．11．2 检测与控制系统的改进设想 | 第55页 |
| 2．12 本章小节 | 第55-56页 |
| 第三章 激光调阻机检测与控制系统设计 | 第56-88页 |
| 3．1 CPU主控制板的设计 | 第56-60页 |
| 3．1．1． 电路设计思路 | 第56-57页 |
| 3．1．2． CPU板设计 | 第57-59页 |
| 3．1．3． 改进建议 | 第59-60页 |
| 3．2 DVS高精度可编程双电压源板设计 | 第60-79页 |
| 3．2．1 电路设计思路 | 第60-62页 |
| 3．2．2 数字接口电路 | 第62-63页 |
| 3．2．3 基准电压源 | 第63-65页 |
| 3．2．4 18位DAC电路 | 第65-66页 |
| 3．2．5 调零电路 | 第66-67页 |
| 3．2．6 调增益电路 | 第67-69页 |
| 3．2．7 电阻分压网络及量程电路 | 第69-70页 |
| 3．2．8 PID调整电路及仿真 | 第70-72页 |
| 3．2．9 在高压下工作的电压跟随器 | 第72-74页 |
| 3．2．10 PID电路内部检测点告警电路 | 第74-77页 |
| 3．2．11 漏电阻消除电路 | 第77页 |
| 3．2．12 抗干扰措施 | 第77-79页 |
| 3．3 AD测量板设计 | 第79-80页 |
| 3．4 MTX矩阵板设计 | 第80-82页 |
| 3．5 DVS、AD、MTX板和探卡检测信号的连接 | 第82-85页 |
| 3．6 探卡及探针 | 第85-86页 |
| 3．7 本章小节 | 第86-88页 |
| 第四章 激光调阻机检测与控制系统程序设计 | 第88-117页 |
| 4．1 检测与控制系统程序设计 | 第88-113页 |
| 4．1．1 基于消息的程序设计思想 | 第88-91页 |
| 1． 基于消息的编程方法 | 第88-89页 |
| 2． 基于消息的单片机编程方法 | 第89-91页 |
| 4．1．2 串行通信协议的制定 | 第91-98页 |
| 1． 高效通信协议的设计思想 | 第91-94页 |
| 2． 激光调阻机串行通信协议及命令 | 第94-98页 |
| 4．1．3 串行中断通信程序的设计 | 第98-102页 |
| 1． 接收程序 | 第99-100页 |
| 2． 发送程序 | 第100-102页 |
| 4．1．4 检测控制程序的设计 | 第102-113页 |
| 1． 主程序消息循环 | 第102-104页 |
| 2． 初始化程序 | 第104-105页 |
| 3． 行同步处理程序 | 第105-106页 |
| 4． 列同步处理程序 | 第106-107页 |
| 5． 工作处理程序 | 第107-110页 |
| 6． 串行通信命令处理程序 | 第110-113页 |
| 4．2 总控制程序与主控制程序的关系 | 第113页 |
| 4．3 改进建议 | 第113页 |
| 4．4 开发工具及调试工具 | 第113-116页 |
| 4．4．1 硬件开发工具 | 第113-114页 |
| 1． OrCAD软件—原理设计 | 第113-114页 |
| 2． Protel软件-PCB设计 | 第114页 |
| 3． Electric Workbench软件—电路仿真 | 第114页 |
| 4． ABEL可编程器件设计软件—可编程器件设计 | 第114页 |
| 4．4．2 软件调试工具 | 第114-116页 |
| 1． Flanklin C51软件 | 第114-115页 |
| 2． Keil C51软件 | 第115页 |
| 3． Easy Scope开发工具 | 第115页 |
| 4． AppBuilder辅助工具软件 | 第115页 |
| 5． Visi02002程序流程图设计软件 | 第115页 |
| 6． 通信精灵HyperComm串口通信调试软件 | 第115-116页 |
| 4．5 本章小节 | 第116-117页 |
| 第五章 误差分析与实验结果 | 第117-129页 |
| 5．1 误差分析 | 第117-121页 |
| 5．1．1 理想电桥的误差来源 | 第117-118页 |
| 5．1．2 电压反馈回路的误差 | 第118-119页 |
| 5．1．3 电阻分压网络的误差 | 第119页 |
| 5．1．4 积分电容的误差 | 第119页 |
| 5．1．5 漏电阻的误差 | 第119页 |
| 5．1．6 AD板中比较器B的比较阈值误差 | 第119-120页 |
| 5．1．7 探针电阻及探针接触电阻引起的误差 | 第120页 |
| 5．1．8 18位DAC的量化误差 | 第120页 |
| 5．1．9 调零电路的量化误差 | 第120-121页 |
| 5．1．10 调增益电路的量化误差 | 第121页 |
| 5．2 实验结果与分析 | 第121-128页 |
| 5．2．1 样本分布 | 第121-123页 |
| 5．2．2 分布的拟合检验 | 第123-124页 |
| 5．2．3 正态总体均值μ_x（数学期望值）的区间估计 | 第124-125页 |
| 5．2．4 假设检验 | 第125-128页 |
| 1． μ_x=μ_y的假设检验（数学期望值的假设检验） | 第126页 |
| 2． σ_x~2=σ_y~2的假设检验（方差的假设检验） | 第126-128页 |
| 5．3 本章小节 | 第128-129页 |
| 第六章 结束语 | 第129-131页 |
| 致谢 | 第131-132页 |
| 附录A CPU板电路原理图 | 第132-134页 |
| 附录B DVS板电路原理图 | 第134-143页 |
| 附录C MTX板电路原理图 | 第143-145页 |
| 参考文献 | 第145-150页 |
| 作者简历 | 第150-151页 |
| 作者在攻读博士学位期间发表的论文 | 第151页 |
