| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| ·工序能力指数的概念和意义 | 第10-14页 |
| ·传统质量评价方法存在的问题 | 第11-12页 |
| ·评价元器件内在质量和可靠性的新思路 | 第12-14页 |
| ·工序能力指数 | 第14页 |
| ·国内外研究现状与选题 | 第14-16页 |
| ·工序能力指数理论的发展 | 第14-15页 |
| ·研究背景与选题 | 第15-16页 |
| ·本论文的主要研究工作 | 第16-17页 |
| 第二章 数据拟合方法分析 | 第17-27页 |
| ·数据拟合方法比较与分析 | 第17-21页 |
| ·非线性最小二乘拟合 | 第17-18页 |
| ·正态概率纸拟合 | 第18-19页 |
| ·两种方法的数据拟合效果分析 | 第19-21页 |
| ·正态分布拟合 | 第21-26页 |
| ·点估计存在的问题 | 第21-22页 |
| ·数据处理及坐标变换 | 第22-24页 |
| ·正态分布拟合优度检验 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 工序能力-成品率分析模型及计算 | 第27-39页 |
| ·工序能力指数 | 第27-30页 |
| ·潜在工序能力指数C_p | 第27-29页 |
| ·实际工序能力指数C_(pk) | 第29-30页 |
| ·成品率η | 第30-31页 |
| ·设计水平P的概念 | 第30-31页 |
| ·成品率η的计算 | 第31页 |
| ·基于成品率的工序能力计算模型 | 第31-34页 |
| ·成品率与设计水平Pσ的关系 | 第31-32页 |
| ·设计水平Pσ与实际工序能力指数C_(pk)的关系 | 第32-33页 |
| ·设计水平Pσ的计算 | 第33页 |
| ·基于成品率的工序能力指数C_(pk)计算步骤 | 第33-34页 |
| ·高精度工序能力指数计算 | 第34-38页 |
| ·高精度数字的表示及运算 | 第34-36页 |
| ·正态分布函数的求法 | 第36-37页 |
| ·计算结果与分析 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 多规范工序能力指数分析 | 第39-53页 |
| ·多规范工序能力指数计算方法 | 第39-48页 |
| ·多规范工序能力指数计算步骤 | 第40页 |
| ·多规范工序能力指数计算应用实例 | 第40-48页 |
| ·不完整数据分析 | 第48-52页 |
| ·不完整数据工序能力指数计算方法 | 第48-49页 |
| ·样本容量与数据拟合精度的关系 | 第49-50页 |
| ·不完整数据工序能力计算应用实例 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 工序能力评价软件 | 第53-58页 |
| ·工序能力评价软件功能简介 | 第53-54页 |
| ·常规C_(pk)分析工具及计算工具 | 第54-58页 |
| 第六章 结束语 | 第58-60页 |
| ·本文的主要贡献 | 第58-59页 |
| ·后续工作展望 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 攻读硕士期间的研究成果 | 第64-66页 |
| 附录 | 第66-70页 |