| 致谢 | 第1-7页 |
| 摘要 | 第7-9页 |
| ABSTRACT | 第9-11页 |
| 目录 | 第11-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-30页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·无损检测与评估概述 | 第15-16页 |
| ·电涡流检测技术概述及研究现状 | 第16-17页 |
| ·电涡流检测技术概述 | 第16页 |
| ·电涡流检测技术研究现状 | 第16-17页 |
| ·多层导电结构深层缺陷电涡流检测技术研究现状 | 第17-25页 |
| ·多层导电结构深层缺陷电涡流检测技术应用研究现状 | 第17-19页 |
| ·多层导电结构深层缺陷电涡流检测信号预处理技术研究现状 | 第19页 |
| ·多层导电结构深层缺陷电涡流检测信号特征提取技术研究现状 | 第19-20页 |
| ·多层导电结构深层缺陷电涡流检测反问题研究现状 | 第20-22页 |
| ·多层导电结构深层缺陷电涡流检测 GMR探头应用研究现状 | 第22-23页 |
| ·多层导电结构深层缺陷电涡流检测研究热点 | 第23-25页 |
| ·本文的研究内容及总体框架 | 第25-28页 |
| ·课题的来源及意义 | 第25页 |
| ·本文的研究内容及总体框架 | 第25-27页 |
| ·本文的主要工作及创新之处 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-30页 |
| 第二章 电涡流检测理论基础 | 第30-42页 |
| ·引言 | 第31页 |
| ·基于阻抗分析的电涡流检测技术 | 第31-34页 |
| ·线圈的阻抗 | 第31-32页 |
| ·阻抗的归一化 | 第32-33页 |
| ·集肤效应 | 第33-34页 |
| ·影响阻抗变化的几个重要参数 | 第34页 |
| ·基于场量分析的电涡流检测技术 | 第34-39页 |
| ·时谐电磁场Maxwell方程组 | 第35页 |
| ·时谐电磁场的矢量磁位及其边值问题 | 第35-37页 |
| ·时谐电磁场的矢量磁位描述 | 第35-36页 |
| ·时谐电磁场的矢量磁位边值问题的一般形式 | 第36-37页 |
| ·理想缺陷产生的扰动磁场 | 第37-39页 |
| ·阻抗分析和场量分析的关系 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 第三章 基于GMR磁场传感器的新型电涡流检测平台 | 第42-54页 |
| ·引言 | 第43页 |
| ·系统总体方案 | 第43-44页 |
| ·基于GMR磁场传感器的电涡流探头设计 | 第44-48页 |
| ·GMR效应及其发现 | 第45-46页 |
| ·GMR磁场传感器选择及其特性 | 第46-48页 |
| ·圆柱形GMR电涡流探头 | 第48页 |
| ·基于GMR磁场传感器的新型电涡流检测平台硬件系统 | 第48-50页 |
| ·基于GMR磁场传感器的新型电涡流检测平台软件系统 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-54页 |
| 第四章 多层导电结构深层缺陷电涡流检测信号预处理和特征提取技术研究 | 第54-76页 |
| ·引言 | 第55页 |
| ·电涡流检测中的缺陷信号片段提取方法 | 第55-56页 |
| ·电涡流检测信号预处理方法 | 第56-69页 |
| ·时域法 | 第56-57页 |
| ·频域法 | 第57页 |
| ·时频结合法 | 第57-63页 |
| ·小波分析理论基础 | 第58-59页 |
| ·基于小波变换的信号消噪技术 | 第59-61页 |
| ·基于小波包分析的信号消噪技术 | 第61-63页 |
| ·信号预处理实例及结果比较 | 第63-69页 |
| ·电涡流检测信号特征提取方法研究 | 第69-75页 |
| ·主分量分析 | 第69-70页 |
| ·独立分量分析 | 第70-71页 |
| ·核主分量分析 | 第71-72页 |
| ·信号特征提取实例及结果比较 | 第72-75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 第五章 多层导电结构深层缺陷电涡流检测信号分类研究 | 第76-88页 |
| ·引言 | 第77页 |
| ·多层导电结构深层缺陷电涡流检测信号分类器设计 | 第77-83页 |
| ·最近均值分类器 | 第77页 |
| ·K近邻分类器 | 第77页 |
| ·神经元网络分类器 | 第77-79页 |
| ·支持向量机 | 第79-83页 |
| ·分类实验 | 第83-86页 |
| ·实验及结果 | 第83-85页 |
| ·实验结果分析 | 第85-86页 |
| ·本章小结 | 第86-88页 |
| 第六章 基于回归分析法的多层导电结构深层缺陷定量化评估研究 | 第88-104页 |
| ·引言 | 第89页 |
| ·基于回归分析法的多层导电结构深层缺陷定量化评估原理 | 第89-90页 |
| ·偏最小二乘回归和核偏最小二乘回归分析法 | 第90-96页 |
| ·偏最小二乘回归算法 | 第90-93页 |
| ·核偏最小二乘回归算法 | 第93-95页 |
| ·模型精度分析 | 第95-96页 |
| ·定量化评估实例及结果 | 第96-102页 |
| ·本章小结 | 第102-104页 |
| 第七章 基于贝叶斯网的多层导电结构深层缺陷定量化评估研究 | 第104-116页 |
| ·引言 | 第105页 |
| ·基于贝叶斯网的多层导电结构深层缺陷定量化评估原理 | 第105-106页 |
| ·贝叶斯网 | 第106-110页 |
| ·贝叶斯网模型 | 第106-107页 |
| ·贝叶斯网学习 | 第107-109页 |
| ·贝叶斯网推理 | 第109-110页 |
| ·定量化评估实例及结果 | 第110-114页 |
| ·实验及结果 | 第110-113页 |
| ·实验结果分析 | 第113-114页 |
| ·本章小结 | 第114-116页 |
| 第八章 结论与展望 | 第116-120页 |
| ·全文总结 | 第117-118页 |
| ·进一步工作展望 | 第118-120页 |
| 参考文献 | 第120-139页 |
| 作者简介 | 第139-140页 |
| 攻读博士学位期间的主要研究成果 | 第140-142页 |
