基准二极管低频噪声测试系统设计及其可靠性筛选方法研究
| 提要 | 第1-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| ·研究意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-10页 |
| ·课题研究内容 | 第10-11页 |
| ·小结 | 第11-12页 |
| 第2章 半导体器件低频噪声背景知识 | 第12-20页 |
| ·电噪声的基础知识 | 第12-14页 |
| ·噪声的概率分布 | 第12-13页 |
| ·噪声的功率谱密度 | 第13页 |
| ·噪声的相关函数 | 第13-14页 |
| ·半导体器件中的噪声 | 第14-19页 |
| ·白噪声 | 第14-16页 |
| ·1/f 噪声 | 第16-17页 |
| ·G-R 噪声 | 第17-18页 |
| ·微等离子体噪声 | 第18-19页 |
| ·小结 | 第19-20页 |
| 第3章 基准二极管低频噪声测试系统设计 | 第20-30页 |
| ·测试系统的构建 | 第20页 |
| ·测试电路模块 | 第20-26页 |
| ·器件偏置电路 | 第20-21页 |
| ·信号调理系统 | 第21-26页 |
| ·数据采集模块 | 第26-28页 |
| ·测试分析模块 | 第28页 |
| ·小结 | 第28-30页 |
| 第4章 基准二极管可靠性筛选方法的研究 | 第30-54页 |
| ·基准二极管的低频噪声 | 第30-34页 |
| ·基准二极管低频噪声产生机理 | 第30-31页 |
| ·基准二极管低频噪声模型 | 第31-34页 |
| ·频域筛选方法的研究 | 第34-40页 |
| ·常见的频域测量方法 | 第34-35页 |
| ·分段互谱测量 | 第35-36页 |
| ·频域敏感参数的选取 | 第36-40页 |
| ·时域筛选方法的研究 | 第40-53页 |
| ·小波变换理论 | 第40-45页 |
| ·小波变换用于表征信号突变特征 | 第45-47页 |
| ·1/f 噪声的小波检测方法 | 第47-51页 |
| ·微等离子体噪声的小波检测方法 | 第51-53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| 第5章 测试系统的软件设计 | 第54-68页 |
| ·虚拟仪器与LabVIEW 简介 | 第54-55页 |
| ·虚拟仪器简介 | 第54页 |
| ·LabVIEW 软件简介 | 第54-55页 |
| ·程序结构设计 | 第55-59页 |
| ·程序设计模式 | 第55-57页 |
| ·程序整体设计 | 第57-59页 |
| ·采集模块设计 | 第59-60页 |
| ·分析模块设计 | 第60-63页 |
| ·频域分析模块 | 第60-61页 |
| ·时域分析模块 | 第61-63页 |
| ·数据存储模块设计 | 第63-67页 |
| ·波形文件存储 | 第63-66页 |
| ·数据库存储 | 第66-67页 |
| ·小结 | 第67-68页 |
| 第6章 总结及展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 摘要 | 第76-79页 |
| Abstract | 第79-82页 |
