摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-11页 |
第一章 引言 | 第11-16页 |
·课题的研究背景 | 第11页 |
·智能感应开关的特点及国内外发展现状 | 第11-12页 |
·常用智能开关的一般工作原理 | 第12-13页 |
·本文开发的热释感应开关的特点 | 第13-14页 |
·本文的研究工作和主要内容 | 第14-16页 |
第二章 感应开关整体构思 | 第16-41页 |
·引言 | 第16-18页 |
·51 系列单片机 | 第16-17页 |
·AVR 系列单片机 | 第17-18页 |
·AVR 单片机的分类及标识 | 第18-19页 |
·Atmega48 性能概述 | 第19-23页 |
·产品特性 | 第19-23页 |
·其它性能优势 | 第23页 |
·选此芯片原因 | 第23-31页 |
·研发步骤 | 第31-41页 |
·热释感应开关开发流程图 | 第31-32页 |
·搭建开发环境 | 第32-35页 |
·组件图 | 第35-37页 |
·需求分析 | 第37-41页 |
第三章 感应开关功能模块研发 | 第41-62页 |
·引言 | 第41页 |
·线程分析 | 第41-62页 |
·端口配置 | 第42-43页 |
·系统分析 | 第43-45页 |
·主函数分析 | 第45-50页 |
·定时系统分析 | 第50-54页 |
·A/D 转换分析 | 第54-56页 |
·主函数头文件 | 第56-57页 |
·编译运行对应功能文件 | 第57-62页 |
第四章 感应开关外围设计和测试 | 第62-74页 |
·引言 | 第62页 |
·外围方案的建立 | 第62-72页 |
·PROTEL 绘制原理图和PCB | 第62-66页 |
·关键电子部件分析 | 第66-70页 |
·产品使用测试 | 第70-72页 |
·热释感应开关机械外壳设计 | 第72页 |
·实地使用说明 | 第72-74页 |
第五章 感应开关调试仿真 | 第74-90页 |
·引言 | 第74页 |
·程序调试 | 第74-90页 |
·AVR Eclipse 插件+C/C++ 开发包调试方法 | 第74-79页 |
·使用AVR Studio 调试线程 | 第79-90页 |
第六章 结束语 | 第90-91页 |
致谢 | 第91-92页 |
参考文献 | 第92-93页 |
附录A:程序源代码 | 第93-111页 |
附录B:英文缩写释义列表 | 第111-114页 |
附录C:PCB 板 layout 图 | 第114-117页 |
附录D: 感应开关的程序烧录过程 | 第117-121页 |