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光电传感器激光致盲与损毁技术研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
符号对照表第11-13页
缩略语对照表第13-16页
第一章 绪论第16-22页
    1.1 研究背景和意义第16-17页
        1.1.1 CCD和CMOS图像传感器的发展第16-17页
        1.1.2 课题研究意义第17页
    1.2 国内外研究历史和现状第17-19页
    1.3 本文主要研究内容第19-22页
第二章 激光对光电探测器干扰理论基础第22-34页
    2.1 CCD的基本结构及工作原理第22-25页
        2.1.1 CCD的基本结构第22页
        2.1.2 CCD的工作原理第22-25页
    2.2 CMOS的基本结构及工作原理第25-28页
        2.2.1 CMOS的像素结构第25-28页
        2.2.2 CMOS的工作原理第28页
    2.3 CCD和CMOS的差异第28-30页
    2.4 激光对光电探测器的作用机理第30-31页
    2.5 本章小结第31-34页
第三章 激光对CCD和CMOS的辐照实验研究第34-48页
    3.1 实验系统设计第34-36页
        3.1.1 实验方案第34-35页
        3.1.2 脉冲激光器介绍第35-36页
    3.2 功率密度的估算第36页
    3.3 实验结果及机理分析第36-41页
        3.3.1 532nm脉冲激光对CCD的损伤实验第36-38页
        3.3.2 532nm脉冲激光对CMOS的损伤实验第38-40页
        3.3.3 1064nm脉冲激光对CMOS的损伤实验第40-41页
        3.3.4 机理分析第41页
    3.4 “猫眼”效应在损伤中的应用第41-46页
        3.4.1 “猫眼”效应原理第42页
        3.4.2 “猫眼”目标的实验研究第42-46页
    3.5 本章小结第46-48页
第四章 远距离激光干扰的仿真研究第48-56页
    4.1 激光在大气中传输的衰减效应第48-51页
    4.2 激光光斑尺寸计算第51-52页
    4.3 远距离激光能量密度计算第52-55页
        4.3.1 理论分析第52-53页
        4.3.2 仿真计算第53-55页
    4.4 本章小结第55-56页
第五章 准连续大功率激光器的实验研究第56-68页
    5.1 侧面泵浦光强分布第56-59页
        5.1.1 单向侧面泵浦第56-57页
        5.1.2 三向侧面泵浦第57-59页
    5.2 实验器材的选取第59-61页
    5.3 准连续泵浦大功率激光器实验研究第61-65页
        5.3.1 实验方案第61页
        5.3.2 实验过程及结果分析第61-64页
        5.3.3 激光器各参数的测量第64-65页
    5.4 单脉冲能量与干扰距离的关系第65-66页
    5.5 本章小结第66-68页
第六章 总结与展望第68-70页
参考文献第70-74页
致谢第74-76页
作者简介第76-77页

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