摘要 | 第5-7页 |
abstract | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第11-22页 |
1.1 研究背景 | 第11-14页 |
1.1.1 引言 | 第11页 |
1.1.2 标定的基本概念 | 第11-14页 |
1.2 偏振串扰测试原理、测量仪器与其标定方法的发展 | 第14-20页 |
1.2.1 测试技术的发展 | 第14-15页 |
1.2.2 测试仪器的发展 | 第15-19页 |
1.2.3 标定方法的发展 | 第19-20页 |
1.3 本文的研究工作 | 第20-22页 |
第2章 光学相干域偏振系统标定方法研究 | 第22-38页 |
2.1 光学相干域偏振系统的测量原理 | 第22-32页 |
2.1.1 白光干涉的基本理论 | 第22-23页 |
2.1.2 光学相干域偏振测量的相关理论 | 第23-26页 |
2.1.3 光路的数学模型分析 | 第26-32页 |
2.2 光学相干域偏振系统标定方案的设计 | 第32-37页 |
2.2.1 一阶偏振串扰的形成及其强度的标定 | 第32-33页 |
2.2.2 高阶偏振串扰的形成及其强度的确定 | 第33-35页 |
2.2.3 基于一阶偏振串扰的标定方案 | 第35-36页 |
2.2.4 基于高阶偏振串扰的标定方案 | 第36-37页 |
2.3 本章小结 | 第37-38页 |
第3章 标定装置的构建研究 | 第38-50页 |
3.1 基于保偏光纤的标定装置的构建 | 第38-45页 |
3.1.1 基于保偏光纤的标定装置的标定原理 | 第38-39页 |
3.1.2 基于保偏光纤的标定装置的构建过程 | 第39-42页 |
3.1.3 基于保偏光纤的标定装置的实用性分析 | 第42-45页 |
3.2 基于0°起偏器的级联型标定装置的构建 | 第45-49页 |
3.2.1 级联型标定装置中的高阶串扰分析 | 第45-46页 |
3.2.2 0°起偏器的折叠效应分析 | 第46-49页 |
3.3 本章小结 | 第49-50页 |
第4章 实际构建标定装置的问题研究 | 第50-59页 |
4.1 影响标定装置性能的因素分析 | 第50-55页 |
4.1.1 耦合点自身串扰对标定装置性能的影响分析 | 第50-51页 |
4.1.2 光纤长度对标定装置性能的影响分析 | 第51-52页 |
4.1.3 器件消光比对标定装置性能的影响分析 | 第52-55页 |
4.2 最优标定结构的选取与最优结构标定器的构建分析 | 第55-57页 |
4.2.1 最优标定结构的选取 | 第55-56页 |
4.2.2 最优结构标定器的构建 | 第56-57页 |
4.3 本章小结 | 第57-59页 |
第5章 实际系统的标定 | 第59-71页 |
5.1 实验结果与分析 | 第60-65页 |
5.1.1 总体实验结果 | 第60-61页 |
5.1.2 各级实验结果分析 | 第61-64页 |
5.1.3 耦合点详细信息 | 第64-65页 |
5.2 误差分析 | 第65-69页 |
5.2.1 误差的确定 | 第65-66页 |
5.2.2 造成误差的因素分析 | 第66-68页 |
5.2.3 误差的修正公式 | 第68-69页 |
5.3 系统空间分辨率的标定 | 第69-70页 |
5.3.1 标定方法 | 第69页 |
5.3.2 标定结果 | 第69-70页 |
5.4 本章小结 | 第70-71页 |
结论 | 第71-73页 |
参考文献 | 第73-80页 |
攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第80-81页 |
致谢 | 第81页 |