| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 背景介绍 | 第10页 |
| 1.2 DSRC综合测试仪中通信协议简介 | 第10-12页 |
| 1.2.1 物理层 | 第11页 |
| 1.2.2 数据链路层 | 第11-12页 |
| 1.2.3 应用层 | 第12页 |
| 1.3 智能IC卡片在ETC中的应用 | 第12-13页 |
| 1.4 论文主要组织架构 | 第13-14页 |
| 第二章 DSRC综合测试仪功能介绍 | 第14-25页 |
| 2.1 DSRC综合测试仪功能简介 | 第14页 |
| 2.2 综合测试仪逻辑分析功能 | 第14-16页 |
| 2.2.1 波形分析栏 | 第15页 |
| 2.2.2 交易日志栏 | 第15-16页 |
| 2.2.3 交易分析和详细数据显示 | 第16页 |
| 2.2.4 详细帧解析 | 第16页 |
| 2.3 综合测试仪设备模拟RSU功能 | 第16-20页 |
| 2.3.1 模拟RSU初始化功能和RSUID设置 | 第17-18页 |
| 2.3.2 射频参数配置功能 | 第18页 |
| 2.3.3 读卡功能和RSU自检功能 | 第18-19页 |
| 2.3.4 开始测试功能 | 第19页 |
| 2.3.5 唤醒灵敏度和唤醒时间测试 | 第19页 |
| 2.3.6 BST测试用例功能 | 第19-20页 |
| 2.4 综合测试仪模拟OBU功能 | 第20-22页 |
| 2.4.1 模拟OBU界面初始化功能 | 第20-21页 |
| 2.4.2 模拟OBU中射频配置功能 | 第21页 |
| 2.4.3 模拟OBU中开始测试功能 | 第21-22页 |
| 2.4.4 VST测试用例功能 | 第22页 |
| 2.5 综合测试仪自身性能测试界面 | 第22-25页 |
| 2.5.1 射频主控芯片PD5000配置操作 | 第23页 |
| 2.5.2 输出信号测试 | 第23页 |
| 2.5.3 接收参数测试 | 第23-25页 |
| 第三章 上位机与主控板接口设计 | 第25-36页 |
| 3.1 上位机与主控板硬件连接模块 | 第25-26页 |
| 3.2 上位机与主控板通信程序 | 第26-33页 |
| 3.2.1 上位机与EzUSB程序设计流程 | 第26-27页 |
| 3.2.2 EzUSB固件程序 | 第27-29页 |
| 3.2.3 EzUSB主要功能程序设计 | 第29-33页 |
| 3.3 上位机与主控器通信协议 | 第33-36页 |
| 第四章 DSRC综合测试仪主控板程序设计 | 第36-44页 |
| 4.1 DSRC综合测试仪系统软件流图 | 第36-37页 |
| 4.2 主控板响应上位机命令 | 第37-38页 |
| 4.3 主控板执行RSU初始化功能函数 | 第38-39页 |
| 4.4 OBU唤醒时间测试 | 第39-44页 |
| 第五章 ETC智能卡片测试模块 | 第44-58页 |
| 5.1 接触式智能卡片读写电路 | 第44-45页 |
| 5.2 接触式智能卡片软件框架 | 第45-46页 |
| 5.3 非接触式IC卡片硬件电路设计 | 第46-50页 |
| 5.3.1 微处理器控制FM1702芯片 | 第47页 |
| 5.3.2 滤波电路 | 第47-48页 |
| 5.3.3 天线的匹配电路 | 第48-49页 |
| 5.3.4 接收电路 | 第49-50页 |
| 5.4 非接触式IC卡片软件设计 | 第50-51页 |
| 5.5 ETC应用中智能卡片发行系统 | 第51-58页 |
| 5.5.1 卡片发行界面介绍 | 第54-55页 |
| 5.5.2 卡片发行软件流程介绍 | 第55-58页 |
| 第六章 研究成果及展望 | 第58-61页 |
| 6.1 研究成果 | 第58-60页 |
| 6.1.1 5.8GHz无线信号侦听与协议分析功能 | 第58-59页 |
| 6.1.2 DSRC设备模拟 | 第59-60页 |
| 6.1.3 物理层测试模式 | 第60页 |
| 6.1.4 ETC系统中智能卡片发行 | 第60页 |
| 6.2 未来展望 | 第60-61页 |
| 攻读硕士期间发表的学术论文 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 致谢 | 第65页 |