| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 脉冲涡流检测技术中研究提离效应的发展现状 | 第11-15页 |
| 1.3 论文研究的目的及意义 | 第15页 |
| 1.4 论文研究内容及章节安排 | 第15-17页 |
| 第二章 脉冲涡流检测系统设计 | 第17-29页 |
| 2.1 脉冲涡流检测的基本原理 | 第17-18页 |
| 2.2 脉冲涡流检测等效电路分析 | 第18-19页 |
| 2.3 脉冲涡流检测系统硬件实验平台设计 | 第19-23页 |
| 2.3.1 激励信号发生模块设计 | 第20-22页 |
| 2.3.2 放大滤波电路设计 | 第22页 |
| 2.3.3 数据采集模块设计 | 第22-23页 |
| 2.4 脉冲涡流检测系统软件分析平台设计 | 第23-28页 |
| 2.4.1 基于Labview的数据采集及分析模块设计 | 第24-26页 |
| 2.4.2 基于Matlab的数据分析对比处理 | 第26-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 提离效应对脉冲涡流检测系统影响的实验研究 | 第29-52页 |
| 3.1 激励信号不同情况下提离效应对脉冲涡流检测系统的影响 | 第29-32页 |
| 3.1.1 电压激励情况 | 第30-31页 |
| 3.1.2 电流激励情况 | 第31-32页 |
| 3.2 激励线圈尺寸不同情况下提离效应对脉冲涡流检测系统的影响 | 第32-34页 |
| 3.3 缺陷尺寸不同情况下提离效应对脉冲涡流检测系统的影响 | 第34-40页 |
| 3.3.1 缺陷同宽不同深情况下，提离效应对脉冲涡流检测系统的影响 | 第34-38页 |
| 3.3.2 缺陷同深不同宽情况下，提离效应对脉冲涡流检测系统的影响 | 第38-40页 |
| 3.4 检测部分器件不同情况下提离效应对脉冲涡流检测系统的影响 | 第40-43页 |
| 3.4.1 检测部分器件不同情况下提离效应对脉冲涡流检测系统的影响 | 第41页 |
| 3.4.2 检测部分器件不同情况下缺陷尺寸对脉冲涡流检测系统的影响 | 第41-43页 |
| 3.5 被测材料不同情况下提离效应对脉冲涡流检测系统的影响 | 第43-48页 |
| 3.5.1 趋肤效应 | 第43-44页 |
| 3.5.2 被测材料为非铁磁性材料提离效应对脉冲涡流检测系统的影响 | 第44-46页 |
| 3.5.3 被测材料为铁磁性材料提离效应对脉冲涡流检测系统的影响 | 第46-48页 |
| 3.6 被测缺陷存在形式不同提离效应对脉冲涡流检测系统的影响 | 第48-50页 |
| 3.6.1 脉冲涡流检测的渗透深度 | 第48-49页 |
| 3.6.2 被测缺陷存在形式不同检测结果 | 第49-50页 |
| 3.7 本章小结 | 第50-52页 |
| 第四章 提出消除提离效应的方法及实验验证 | 第52-64页 |
| 4.1 最优检测条件下缺陷检测实验研究及数据分析 | 第52-55页 |
| 4.2 提出消除提离效应在脉冲涡流检测系统中影响的方法 | 第55-58页 |
| 4.2.1 消除提离效应补偿方法正问题实现过程 | 第55-56页 |
| 4.2.2 消除提离效应补偿方法逆问题求解过程 | 第56-57页 |
| 4.2.3 基于Labview的消除提离效应补偿方法的软件程序设计 | 第57-58页 |
| 4.3 对提出的补偿方法进行实验验证 | 第58-62页 |
| 4.3.1 检测铝合金7075缺陷的实验验证 | 第58-61页 |
| 4.3.2 检测铝合金2024缺陷的实验验证 | 第61-62页 |
| 4.4 讨论补偿方法的优缺点 | 第62-63页 |
| 4.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 全文总结及展望 | 第64-66页 |
| 5.1 全文研究总结 | 第64页 |
| 5.2 未来工作展望 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第71-72页 |
