| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 选题背景和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3 主要研究工作内容 | 第12-14页 |
| 2 电晕放电基本理论与绝缘子放电机理 | 第14-21页 |
| 2.1 汤森理论与流注理论 | 第14-16页 |
| 2.2 电晕放电数值模型 | 第16-18页 |
| 2.3 绝缘子电晕放电机理 | 第18-20页 |
| 2.4 小结 | 第20-21页 |
| 3 绝缘子局部电场仿真分析 | 第21-32页 |
| 3.1 仿真软件的选择 | 第21-23页 |
| 3.1.1 软件介绍 | 第21-22页 |
| 3.1.2 仿真流程 | 第22-23页 |
| 3.2 绝缘子仿真模型的建立 | 第23-27页 |
| 3.2.1 QBJ-25型铁道棒形瓷绝缘子 | 第23-25页 |
| 3.2.2 仿真参数 | 第25-26页 |
| 3.2.3 网格剖分 | 第26-27页 |
| 3.3 清洁绝缘子电场分布 | 第27-29页 |
| 3.4 污秽绝缘子电场分布 | 第29-31页 |
| 3.5 仿真计算验证 | 第31页 |
| 3.6 小结 | 第31-32页 |
| 4 接触网绝缘子电晕放电混合模型建立与求解 | 第32-46页 |
| 4.1 接触网绝缘子电晕放电模型的建立 | 第33-38页 |
| 4.1.1 接触网绝缘子电晕放电混合模型控制方程 | 第33-35页 |
| 4.1.2 接触网绝缘子电晕放电微观过程的化学反应描述 | 第35-36页 |
| 4.1.3 关键边界条件 | 第36-38页 |
| 4.2 接触网绝缘子电晕放电结果分析 | 第38-44页 |
| 4.2.1 电势与电场分布 | 第38-40页 |
| 4.2.2 电子密度分布发展规律 | 第40-42页 |
| 4.2.3 电子温度发展规律 | 第42-43页 |
| 4.2.4 重粒子密度分布发展规律 | 第43-44页 |
| 4.3 小结 | 第44-46页 |
| 5 环境因素对绝缘子电晕放电的影响 | 第46-53页 |
| 5.1 压强对电晕放电的影响 | 第46-49页 |
| 5.1.1 压强对电场强度的影响 | 第46-48页 |
| 5.1.2 压强对平均电子能的影响 | 第48-49页 |
| 5.2 初始电子密度对电晕放电的影响 | 第49-52页 |
| 5.2.1 初始电子密度对电子分布的影响 | 第50-51页 |
| 5.2.2 初始电子密度对电场强度的影响 | 第51-52页 |
| 5.3 小结 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第59页 |