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基片集成阵列天线的赋形研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-17页
    1.1 研究背景及意义第10-11页
    1.2 国内外的研究现状第11-16页
        1.2.1 方向图副瓣抑制阵列天线第11-13页
        1.2.2 波束展宽及宽角扫描阵列天线第13-16页
    1.3 本文的主要工作及章节安排第16-17页
第二章 E面方向图副瓣抑制阵列天线第17-45页
    2.1 项目指标及总体方案第17-19页
    2.2 天线单元设计第19-20页
    2.3 K波段 16×32赋形阵列天线综合第20-23页
    2.4 K波段 16×32赋形阵列天线设计第23-34页
        2.4.1 馈电结构设计第23-28页
        2.4.2 标准波导与基片集成波导过渡结构第28-30页
        2.4.3 总体结构仿真第30-34页
    2.5 K波段 16×32赋形阵列天线实验研究第34-40页
        2.5.1 反射系数测试第34-36页
        2.5.2 增益与方向图测试第36-40页
    2.6 容差分析第40-44页
        2.6.1 介质基片参数影响第40-41页
        2.6.2 加工误差影响第41-44页
    2.7 本章小结第44-45页
第三章 E面和H面方向图副瓣抑制阵列天线第45-59页
    3.1 总体方案第45-46页
    3.2 天线单元设计第46-47页
    3.3 K波段 16×22赋形阵列天线综合第47-48页
    3.4 K波段 16×22赋形阵列天线设计第48-52页
        3.4.1 馈电结构设计第48-50页
        3.4.2 总体结构仿真第50-52页
    3.5 K波段 16×22赋形阵列天线实验研究第52-58页
        3.5.1 反射系数测试第52-54页
        3.5.2 增益与方向图测试第54-56页
        3.5.3 实验结果分析第56-58页
    3.6 本章小结第58-59页
第四章 波束展宽及宽角扫描阵列天线第59-69页
    4.1 天线单元设计第59-60页
    4.2 天线单元实验研究第60-62页
        4.2.1 反射系数测试第61页
        4.2.2 增益与方向图测试第61-62页
    4.3 V波段 1×8 宽角扫描阵列天线设计第62-68页
        4.3.1 改进天线单元设计第62-65页
        4.3.2 改进天线单元在 1×8 宽角扫描阵列天线中的应用第65-68页
    4.4 本章小结第68-69页
第五章 基片集成波导共形漏波天线第69-77页
    5.1 设计指标与天线单元设计第69-73页
    5.2 天线单元实验研究第73-76页
        5.2.1 反射系数测试第74页
        5.2.2 增益与方向图测试第74-76页
    5.3 本章小结第76-77页
第六章 总结与展望第77-78页
致谢第78-79页
参考文献第79-83页
攻硕期间取得的研究成果第83-84页

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