摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-17页 |
1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外的研究现状 | 第11-16页 |
1.2.1 方向图副瓣抑制阵列天线 | 第11-13页 |
1.2.2 波束展宽及宽角扫描阵列天线 | 第13-16页 |
1.3 本文的主要工作及章节安排 | 第16-17页 |
第二章 E面方向图副瓣抑制阵列天线 | 第17-45页 |
2.1 项目指标及总体方案 | 第17-19页 |
2.2 天线单元设计 | 第19-20页 |
2.3 K波段 16×32赋形阵列天线综合 | 第20-23页 |
2.4 K波段 16×32赋形阵列天线设计 | 第23-34页 |
2.4.1 馈电结构设计 | 第23-28页 |
2.4.2 标准波导与基片集成波导过渡结构 | 第28-30页 |
2.4.3 总体结构仿真 | 第30-34页 |
2.5 K波段 16×32赋形阵列天线实验研究 | 第34-40页 |
2.5.1 反射系数测试 | 第34-36页 |
2.5.2 增益与方向图测试 | 第36-40页 |
2.6 容差分析 | 第40-44页 |
2.6.1 介质基片参数影响 | 第40-41页 |
2.6.2 加工误差影响 | 第41-44页 |
2.7 本章小结 | 第44-45页 |
第三章 E面和H面方向图副瓣抑制阵列天线 | 第45-59页 |
3.1 总体方案 | 第45-46页 |
3.2 天线单元设计 | 第46-47页 |
3.3 K波段 16×22赋形阵列天线综合 | 第47-48页 |
3.4 K波段 16×22赋形阵列天线设计 | 第48-52页 |
3.4.1 馈电结构设计 | 第48-50页 |
3.4.2 总体结构仿真 | 第50-52页 |
3.5 K波段 16×22赋形阵列天线实验研究 | 第52-58页 |
3.5.1 反射系数测试 | 第52-54页 |
3.5.2 增益与方向图测试 | 第54-56页 |
3.5.3 实验结果分析 | 第56-58页 |
3.6 本章小结 | 第58-59页 |
第四章 波束展宽及宽角扫描阵列天线 | 第59-69页 |
4.1 天线单元设计 | 第59-60页 |
4.2 天线单元实验研究 | 第60-62页 |
4.2.1 反射系数测试 | 第61页 |
4.2.2 增益与方向图测试 | 第61-62页 |
4.3 V波段 1×8 宽角扫描阵列天线设计 | 第62-68页 |
4.3.1 改进天线单元设计 | 第62-65页 |
4.3.2 改进天线单元在 1×8 宽角扫描阵列天线中的应用 | 第65-68页 |
4.4 本章小结 | 第68-69页 |
第五章 基片集成波导共形漏波天线 | 第69-77页 |
5.1 设计指标与天线单元设计 | 第69-73页 |
5.2 天线单元实验研究 | 第73-76页 |
5.2.1 反射系数测试 | 第74页 |
5.2.2 增益与方向图测试 | 第74-76页 |
5.3 本章小结 | 第76-77页 |
第六章 总结与展望 | 第77-78页 |
致谢 | 第78-79页 |
参考文献 | 第79-83页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第83-84页 |