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基于LPC1788芯片的OLED模组驱动系统的设计与实现

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第11-15页
    1.1 课题背景第11-12页
    1.2 课题来源第12页
    1.3 课题意义和价值第12-13页
    1.4 研究内容第13-15页
第二章 相关技术分析第15-21页
    2.1 引言第15页
    2.2 OLED技术第15-17页
        2.2.1 OLED技术发展史第15-16页
        2.2.2 OLED国内外行业动态第16-17页
    2.3 LCD技术第17-18页
        2.3.1 LCD技术概述第17页
        2.3.2 LCD技术发展史第17-18页
    2.4 PDP技术第18-19页
        2.4.1 PDP技术概述第18页
        2.4.2 PDP技术发展史第18-19页
    2.5 ARM处理技术第19-20页
        2.5.1 ARM处理技术概述第19页
        2.5.2 ARM处理技术国内外动态第19-20页
    2.6 本章小结第20-21页
第三章 需求分析第21-25页
    3.1 总体需求第21页
    3.2 功能需求第21页
    3.3 软件性能需求分析第21-22页
    3.4 市场需求第22页
    3.5 可行性分析第22-24页
        3.5.1 技术可行性第23页
        3.5.2 经济可行性第23-24页
        3.5.3 操作可行性第24页
    3.6 开发工具和平台第24页
    3.7 本章小结第24-25页
第四章 系统总体设计第25-31页
    4.1 系统框图第25页
    4.2 软件设计概要第25-26页
    4.3 功能模块第26-27页
    4.4 主要性能指标第27页
    4.5 数据接口定义第27-30页
        4.5.1 MCU外围接口定义第28页
        4.5.2 OLED驱动接口定义第28-30页
    4.6 关键技术与难点第30页
    4.7 本章小结第30-31页
第五章 系统详细设计第31-43页
    5.1 软件系统流程框图第31-32页
    5.2 软件功能模块图第32-33页
    5.3 系统初始化第33页
        5.3.1 系统初始化设计第33页
    5.4 OLED显示模块第33-35页
        5.4.1 OLED显示模块的设计第33-35页
    5.5 主控制模块第35-36页
        5.5.1 8080驱动时序图第35页
        5.5.2 模组上电时序要求第35-36页
    5.6 按键模块第36-37页
        5.6.1 按键模块的设计第36-37页
    5.7 FLASH读写模块第37-38页
        5.7.1 FLASH 读写模块设计第37-38页
    5.8 模组老化模块第38-40页
        5.8.1 模组老化模块的设计第38-40页
    5.9 系统电路设计第40-42页
        5.9.1 原理图设计第40-42页
        5.9.2 PCB设计第42页
    5.10 本章小结第42-43页
第六章 系统实现与测试第43-70页
    6.1 系统初始化模块的实现第43-48页
        6.1.1 系统初始化模块的算法代码第43-47页
        6.1.2 系统初始化模块的程序界面第47-48页
    6.2 显示模块的实现第48-52页
        6.2.1 显示模块的算法代码第48-51页
        6.2.2 显示模块的程序界面第51-52页
    6.3 按键模块的实现第52-54页
        6.3.1 按键模块的算法代码第52-53页
        6.3.2 按键模块的程序界面第53-54页
    6.4 FLASH模块的实现第54-59页
        6.4.1 FLASH模块的算法代码第54-58页
        6.4.2 FLASH模块的程序界面第58-59页
    6.5 模组老化模块的实现第59-64页
        6.5.1 模组老化模块的算法代码第59-63页
        6.5.2 模组老化模块的样机界面第63-64页
    6.6 系统测试第64-69页
        6.6.1 测试方案第64页
        6.6.2 测试环境第64页
        6.6.3 驱动时序测试第64-66页
        6.6.5 软件功能测试第66-68页
        6.6.6 代码烧录测试第68-69页
    6.7 测试结果与分析第69页
        6.7.1 不良分析第69页
    6.8 本章小结第69-70页
第七章 总结与展望第70-74页
    7.1 系统方案总结第70-71页
    7.2 工作成果第71-73页
        7.2.1 创新成果第71-72页
        7.2.2 实物样机第72-73页
    7.3 工作展望第73-74页
致谢第74-75页
参考文献第75-77页

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