| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| 1.1 研究的目的与意义 | 第7页 |
| 1.2 国内外研究动态 | 第7-8页 |
| 1.3 论文的结构安排 | 第8-11页 |
| 第二章 高精度逐次逼近型模数转换器概述 | 第11-29页 |
| 2.1 SAR ADC 工作原理 | 第11-12页 |
| 2.2 SAR ADC 具体电路实现 | 第12-16页 |
| 2.2.1 传统二进制电容 D/A 转换器 | 第12-14页 |
| 2.2.2 分段二进制电容 D/A 转换器 | 第14-16页 |
| 2.3 高精度 SAR ADC | 第16-27页 |
| 2.3.1 电容 DAC 的实现 | 第17-20页 |
| 2.3.2 高速高精度比较器的实现 | 第20-26页 |
| 2.3.3 高精度 SAR ADC 的校准技术 | 第26-27页 |
| 2.4 小结 | 第27-29页 |
| 第三章 一种 16位 1MS/s SARA/D转换器的电路实现 | 第29-59页 |
| 3.1 系统结构 | 第29-34页 |
| 3.2 采样开关 | 第34-45页 |
| 3.2.1 MOS 采样开关 | 第34-37页 |
| 3.2.2 采样电路的非理想因素 | 第37-41页 |
| 3.2.3 高精度采样电路 | 第41-45页 |
| 3.3 DAC 电容网络 | 第45-49页 |
| 3.3.1 单位电容的选取 | 第45-48页 |
| 3.3.2 寄生电容影响分析 | 第48-49页 |
| 3.4 比较器的设计 | 第49-55页 |
| 3.4.1 比较器的结构 | 第49-50页 |
| 3.4.2 预放大器 | 第50-52页 |
| 3.4.3 Latch 比较器 | 第52-53页 |
| 3.4.4 比较器失调 | 第53-55页 |
| 3.5 SAR 控制逻辑 | 第55-56页 |
| 3.6 整体仿真 | 第56-57页 |
| 3.7 小结 | 第57-59页 |
| 第四章 SARA/D转换器的校准技术 | 第59-69页 |
| 4.1 模拟校准技术 | 第59-61页 |
| 4.2 基于“SplitADC”的数字校准技术 | 第61-68页 |
| 4.2.1 系统结构 | 第62-65页 |
| 4.2.2 仿真验证 | 第65-68页 |
| 4.3 小结 | 第68-69页 |
| 第五章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 5.1 工作总结 | 第69页 |
| 5.2 未来展望 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 研究成果 | 第77-78页 |