| 中文摘要 | 第4-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 第1章 综述 | 第9-27页 |
| 1.1 应力调控 | 第9-17页 |
| 1.1.1 薄膜中的应力 | 第9-10页 |
| 1.1.2 薄膜中应力调控的方式 | 第10-13页 |
| 1.1.3 薄膜中应力调控的研究 | 第13-17页 |
| 1.2 尖晶石铁氧体 | 第17-21页 |
| 1.2.1 尖晶石铁氧体的基本性质 | 第17-18页 |
| 1.2.2 应力对尖晶石铁氧体薄膜结构、磁性和输运特性的调控 | 第18-21页 |
| 1.3 理论背景 | 第21-24页 |
| 1.3.1 多铁性材料及磁电耦合效应 | 第21-22页 |
| 1.3.2 电场调控磁性的机制 | 第22-24页 |
| 1.4 存在的问题及本论文的工作 | 第24-27页 |
| 第2章 样品制备、结构表征与物性测量 | 第27-35页 |
| 2.1 样品制备 | 第27-30页 |
| 2.1.1 磁控溅射法 | 第27-28页 |
| 2.1.2 薄膜的制备 | 第28-30页 |
| 2.2 结构表征 | 第30-32页 |
| 2.2.1 表面形貌测量仪 | 第30页 |
| 2.2.2 原子力显微镜 | 第30页 |
| 2.2.3 X射线衍射仪 | 第30-31页 |
| 2.2.4 透射电子显微镜 | 第31页 |
| 2.2.5 X射线光电子能谱仪 | 第31-32页 |
| 2.2.6 X射线能谱仪 | 第32页 |
| 2.3 物性测量 | 第32-35页 |
| 2.3.1 压电力显微镜 | 第32页 |
| 2.3.2 TFAnalyzer1000铁电分析仪 | 第32-33页 |
| 2.3.3 超导量子干涉仪 | 第33页 |
| 2.3.4 物理性质测量系统 | 第33-34页 |
| 2.3.5 Keithley2400多功能源表 | 第34-35页 |
| 第3章 静态应力对Lu_xFe_(3?x)O_4薄膜磁性和输运特性的调控 | 第35-53页 |
| 3.1 Lu_xFe_(3?x)O_4薄膜的成分和结构 | 第35-42页 |
| 3.1.1 Lu_xFe_(3?x)O_4薄膜的成分 | 第35-36页 |
| 3.1.2 Lu_xFe_(3?x)O_4薄膜的结构 | 第36-40页 |
| 3.1.3 应力对Lu_xFe_(3?x)O_4薄膜晶格常数的调控 | 第40-42页 |
| 3.2 应力对Lu_xFe_(3?x)O_4薄膜磁性的调控 | 第42-47页 |
| 3.2.1 Lu_xFe_(3?x)O_4薄膜的磁化强度、交换偏置和矫顽力 | 第42-44页 |
| 3.2.2 Lu_xFe_(3?x)O_4薄膜的Verwey转变和自旋冻结 | 第44-47页 |
| 3.3 应力对Lu_xFe_(3?x)O_4薄膜输运特性的调控 | 第47-51页 |
| 3.3.1 Lu_xFe_(3?x)O_4薄膜的电阻率 | 第47页 |
| 3.3.2 Lu_xFe_(3?x)O_4薄膜的各向异性磁电阻和平面霍尔效应 | 第47-51页 |
| 3.4 本章小结 | 第51-53页 |
| 第4章 动态应力对CoFe_2O_4/PMN-PT异质结磁性的调控 | 第53-67页 |
| 4.1 CoFe_2O_4/PMN-PT异质结的结构和表面形貌 | 第54-56页 |
| 4.2 PMN-PT基片的铁电性与压电性 | 第56-58页 |
| 4.3 应力和铁电场效应对CoFe_2O_4/PMN-PT异质结磁性的调控 | 第58-64页 |
| 4.3.1 电场作用下CoFe_2O_4/PMN-PT异质结磁性的变化 | 第58-61页 |
| 4.3.2 应力对CoFe_2O_4/PMN-PT异质结磁性的调控 | 第61-63页 |
| 4.3.3 铁电场效应对CoFe_2O_4/PMN-PT异质结磁性的调控 | 第63-64页 |
| 4.4 本章小结 | 第64-67页 |
| 第5章 结论 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-79页 |
| 攻读硕士学位期间完成的学术论文 | 第79-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
