| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 静态存储器SRAM的单粒子效应原理 | 第11-13页 |
| 1.2.1 单粒子翻转 | 第11-12页 |
| 1.2.2 单粒子多节点翻转 | 第12页 |
| 1.2.3 单粒子烧毁效应 | 第12-13页 |
| 1.3 地面单粒子辐射模拟试验 | 第13页 |
| 1.4 国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.4.1 国外研究情况 | 第13-14页 |
| 1.4.2 国内研究情况 | 第14-15页 |
| 1.5 本文主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第二章 系统设计 | 第17-31页 |
| 2.1 原有的单粒子效应测试系统 | 第17-21页 |
| 2.1.1 原有的单粒子测试系统及方案 | 第17-18页 |
| 2.1.2 FPGA平台母板 | 第18-19页 |
| 2.1.3 DUT负载子板 | 第19-20页 |
| 2.1.4 步进电机 | 第20-21页 |
| 2.2 被测对象 | 第21-24页 |
| 2.2.1 SRAM的结构及其功能 | 第21-22页 |
| 2.2.2 32K_SRAM总体结构 | 第22-23页 |
| 2.2.3 管脚分布及管脚定义 | 第23-24页 |
| 2.3 原有单粒子效应测试系统方案上的改进 | 第24-27页 |
| 2.4 软件部分设计工具 | 第27-30页 |
| 2.4.1 FPGA | 第27-29页 |
| 2.4.2 LabVIEW | 第29-30页 |
| 2.5 本章总结 | 第30-31页 |
| 第三章 系统设计实现 | 第31-45页 |
| 3.1 电机上位机设计与实现 | 第31-35页 |
| 3.1.1 电机上位机设计目标 | 第31-32页 |
| 3.1.2 电机上位机设计方案及LabVIEW代码实现 | 第32-35页 |
| 3.2 FPGA测试系统上位机设计与实现 | 第35-39页 |
| 3.2.1 FPGA测试系统上位机功能设计 | 第35-37页 |
| 3.2.2 测试系统上位机LabVIEW代码实现 | 第37-39页 |
| 3.3 下位机设计实现 | 第39-44页 |
| 3.3.1 测试系统下位机功能设计 | 第39-41页 |
| 3.3.2 存储器故障类型 | 第41页 |
| 3.3.3 测试下位机算法实现 | 第41-44页 |
| 3.4 本章总结 | 第44-45页 |
| 第四章 系统验证 | 第45-51页 |
| 4.1 测试环境 | 第45-46页 |
| 4.1.1 地面模拟辐射环境和空间辐射环境的差异 | 第45页 |
| 4.1.2 辐照设备 | 第45-46页 |
| 4.2 测试准备及操作流程 | 第46-50页 |
| 4.4 本章总结 | 第50-51页 |
| 第五章 结论与展望 | 第51-53页 |
| 5.1 结论总结 | 第51页 |
| 5.2 研究展望 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-56页 |
| 在学期间的研究成果 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57页 |