外场天线测试系统的数据处理及软件设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第12页 |
| 1.4 本文结构安排 | 第12-14页 |
| 第二章 天线方向图测试的基本理论 | 第14-28页 |
| 2.1 天线方向图的相关理论 | 第14-19页 |
| 2.1.1 天线方向图 | 第14-17页 |
| 2.1.2 天线方向图技术指标 | 第17-19页 |
| 2.2 天线测试方法原理 | 第19-23页 |
| 2.2.1 测试场类型 | 第19-20页 |
| 2.2.2 测试方法分类 | 第20-23页 |
| 2.3 天线测试存在的主要干扰因素 | 第23-27页 |
| 2.3.1 多径效应 | 第23-27页 |
| 2.3.2 其他干扰因素 | 第27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 测试总体方案 | 第28-38页 |
| 3.1 天线测试方法 | 第28-33页 |
| 3.1.1 移动站点测试法 | 第28-30页 |
| 3.1.2 测试方法流程实现 | 第30-33页 |
| 3.2 测试功能需求分析 | 第33-34页 |
| 3.3 测试平台组成 | 第34-37页 |
| 3.3.1 硬件平台组成 | 第34-36页 |
| 3.3.2 软件平台组成 | 第36-37页 |
| 3.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 天线测试中的数据处理 | 第38-48页 |
| 4.1 多径效应的数学模型 | 第38-40页 |
| 4.1.1 瑞利准则 | 第38页 |
| 4.1.2 多径效应的镜反射模型 | 第38-40页 |
| 4.2 多径效应下雷达低仰角测量误差分析 | 第40-42页 |
| 4.2.1 多径效应下距离变化对测量的影响 | 第40-41页 |
| 4.2.2 距离变化对相位差的影响 | 第41-42页 |
| 4.2.3 多径反射误差区域 | 第42页 |
| 4.3 多径引入的误差补偿 | 第42-43页 |
| 4.4 全站仪与被测天线位置偏差引入的误差修正 | 第43-44页 |
| 4.5 距离变化引入的误差补偿 | 第44-46页 |
| 4.6 其他减少测试误差的措施 | 第46-47页 |
| 4.6.1 角度测试误差处理 | 第46-47页 |
| 4.6.2 测试场地的干扰处理 | 第47页 |
| 4.7 本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 软件设计和实现 | 第48-73页 |
| 5.1 软件需求分析 | 第48页 |
| 5.2 软件结构设计 | 第48-51页 |
| 5.3 软件功能模块设计 | 第51-72页 |
| 5.3.1 参数测试模块设计 | 第53-56页 |
| 5.3.2 仪器驱动模块设计 | 第56-61页 |
| 5.3.3 数据处理模块设计 | 第61-71页 |
| 5.3.4 交互模块设计 | 第71-72页 |
| 5.4 本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 软件功能测试 | 第73-78页 |
| 6.1 测试验证结果 | 第73-76页 |
| 6.1.1 天线方向图功能测试 | 第73-75页 |
| 6.1.2 误差干扰下方向图测试 | 第75-76页 |
| 6.2 测试结果分析 | 第76-77页 |
| 6.3 本章小结 | 第77-78页 |
| 第七章 总结 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第82-83页 |
