| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第12-23页 |
| 1.1 背景与意义 | 第12-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-20页 |
| 1.2.1 基于光谱分析的光标量分析技术 | 第14-15页 |
| 1.2.2 基于光干涉法的光矢量分析技术 | 第15-16页 |
| 1.2.3 基于宽带电调制的光矢量分析技术 | 第16-17页 |
| 1.2.4 基于光单边带调制的光矢量分析技术 | 第17-20页 |
| 1.3 本文的主要研究工作与创新点 | 第20-21页 |
| 1.4 论文的内容及安排 | 第21-23页 |
| 第二章 基于光双边带调制的光矢量分析技术 | 第23-39页 |
| 2.1 问题引入与主要困难 | 第23-25页 |
| 2.1.1 基于光单边带调制的光矢量分析技术中存在的问题 | 第23-24页 |
| 2.1.2 在光矢量分析技术中引入光双边带扫频的主要困难 | 第24-25页 |
| 2.2 基于光双边带调制的光矢量分析技术基本原理 | 第25-27页 |
| 2.3 非对称双边带调制的特性对测试性能的影响 | 第27-32页 |
| 2.3.1 残留边带对测试性能的影响及其数值仿真 | 第28-30页 |
| 2.3.2 原载波对测试性能的影响及其数值仿真 | 第30-31页 |
| 2.3.3 高阶边带对测试性能的影响及其数值仿真 | 第31-32页 |
| 2.4 非对称双边带调制的实现原理 | 第32-38页 |
| 2.4.1 声光移频法 | 第32-35页 |
| 2.4.2 单边带调制移频法 | 第35-38页 |
| 2.4.2.1 基于受激布里渊散射 | 第35-37页 |
| 2.4.2.2 基于双驱动调制器 | 第37-38页 |
| 2.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 基于光双边带调制的光矢量分析的实验研究 | 第39-48页 |
| 3.1 基于声光移频法与光双边带调制的光标量分析实验研究 | 第39-41页 |
| 3.1.1 实验方案 | 第39页 |
| 3.1.2 实验结果与分析 | 第39-41页 |
| 3.2 基于受激布里渊散射与光双边带调制的光矢量分析实验研究 | 第41-44页 |
| 3.2.1 实验方案 | 第41-42页 |
| 3.2.2 实验结果与分析 | 第42-44页 |
| 3.3 基于双驱动调制器与光双边带调制的光矢量分析实验研究 | 第44-47页 |
| 3.3.1 实验方案 | 第44-45页 |
| 3.3.2 基于双平行光电调制器与光双边带调制的光矢量分析技术实验结果 | 第45-47页 |
| 3.4 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 基于光双边带调制的光矢量分析测量系统性能研究及性能提升技术 | 第48-60页 |
| 4.1 基于光频梳的测量带宽拓展技术研究 | 第48-52页 |
| 4.1.1 超平坦光频梳的产生 | 第48-49页 |
| 4.1.2 基于光频梳与光双边带调制的测量带宽拓展技术工作原理 | 第49页 |
| 4.1.3 实验验证 | 第49-52页 |
| 4.2 共模噪声抑制技术 | 第52-53页 |
| 4.3 对大调制系数的兼容性研究 | 第53-57页 |
| 4.3.1 大信号调制对基于光单边带调制的光矢量分析技术的影响 | 第53-55页 |
| 4.3.2 大信号调制对基于光双边带调制的光矢量分析技术的影响 | 第55-57页 |
| 4.4 带通光器件测量技术研究 | 第57-58页 |
| 4.5 本章小结 | 第58-60页 |
| 第五章 总结与展望 | 第60-62页 |
| 5.1 全文工作总结 | 第60页 |
| 5.2 未来工作展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第69页 |
