基于BZN变容管的VCO相位噪声及锁相技术研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 引言 | 第9-16页 |
·研究背景和意义 | 第9-10页 |
·BZN 薄膜电容的研究 | 第10-14页 |
·BZN 薄膜概述 | 第10-11页 |
·国内外发展动态 | 第11-14页 |
·本课题研究的主要内容 | 第14-16页 |
·研究的内容 | 第14-15页 |
·本文结构安排 | 第15-16页 |
第二章 BZN 电容测试平台研究 | 第16-27页 |
·建立测试平台的必要性 | 第16-17页 |
·测量面临的问题 | 第16-17页 |
·影响测量精度的主要因素 | 第17页 |
·高频S 参数测量方法 | 第17-20页 |
·谐振回路测量方法 | 第17-18页 |
·直接端口测量方法 | 第18页 |
·BZN 电容的模型及测量参数提取 | 第18-20页 |
·TRL 去嵌入方法 | 第20-24页 |
·测试夹具的设计 | 第24-26页 |
·小结 | 第26-27页 |
第三章 压控振荡器的原理和低噪声设计研究 | 第27-42页 |
·振荡器概述 | 第27-33页 |
·反馈型振荡器 | 第27-28页 |
·负阻型振荡器 | 第28-31页 |
·压控振荡器 | 第31-33页 |
·振荡器的相位噪声分析 | 第33-37页 |
·Lesson 模型 | 第34-35页 |
·Lee and Hajimiri 模型 | 第35-36页 |
·AM 到PM 转换 | 第36-37页 |
·压控振荡器噪声降低方法 | 第37-41页 |
·谐振回路Q 值的考虑 | 第37-38页 |
·谐振回路与有源电路接入的考虑 | 第38-39页 |
·低频负载条件和低频反馈 | 第39-40页 |
·其它噪声优化措施 | 第40-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第四章 VCO 的设计研究 | 第42-62页 |
·设计指标 | 第42页 |
·采用的器件介绍 | 第42-46页 |
·有源器件的选择 | 第42-44页 |
·变容二极管的选择 | 第44-45页 |
·基板材料选择 | 第45-46页 |
·电路的设计仿真 | 第46-56页 |
·仿真软件 | 第46页 |
·谐振回路的设计 | 第46-49页 |
·负阻电路的设计 | 第49-52页 |
·整体电路的分析 | 第52-56页 |
·电路的版图设计 | 第56-58页 |
·电路调试与分析 | 第58-61页 |
·VCO 的调试 | 第58-60页 |
·VCO 结果分析 | 第60-61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
第五章 锁相环的分析和设计 | 第62-79页 |
·锁相环的构成和原理 | 第62-63页 |
·电荷泵锁相环 | 第63-66页 |
·相位频率监测器(PFD) | 第63-64页 |
·电荷泵 | 第64-65页 |
·环路滤波器 | 第65-66页 |
·锁相环的噪声和杂散 | 第66-69页 |
·线性环路方程 | 第66-67页 |
·噪声 | 第67-68页 |
·信号杂散 | 第68-69页 |
·X 波段锁相环设计 | 第69-75页 |
·设计方案 | 第69-71页 |
·微带定向耦合器设计 | 第71-72页 |
·分频器的评估测试 | 第72-73页 |
·控制电路设计 | 第73-74页 |
·环路滤波器的设计 | 第74-75页 |
·测试和调试 | 第75-78页 |
·本章小结 | 第78-79页 |
第六章 结论 | 第79-80页 |
致谢 | 第80-81页 |
参考文献 | 第81-84页 |
附录 | 第84-86页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第86-87页 |