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基于S3C4510B的嵌入式系统硬件体系结构设计

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
第一章 绪论第7-12页
    1.1 嵌入式系统概述第7页
        1.1.1 嵌入式系统的定义第7页
        1.1.2 嵌入式操作系统第7页
    1.2 嵌入式处理器第7-9页
        1.2.1 嵌入式微处理器(EMBEDDED MICROPROCESSOR UNIT,EMPU)第8页
        1.2.2 嵌入式微控制器(MICROCONTROLLER UNIT,MCU)第8页
        1.2.3 嵌入式DSP处理器(EMBEDDED DIGITAL SIGNAL PROCESSOR,EDSP)第8-9页
    1.3 嵌入式系统国内外研发概况及趋势第9-10页
    1.4 本课题研究意义第10-12页
        1.4.1 课题意义第10页
        1.4.2 本文主要研究内容第10-12页
第二章 开发平台ARM微处理器综述第12-21页
    2.1 ARM微处理器介绍第12-15页
        2.1.1 ARM微处理器体系结构第12-13页
        2.1.2 ARM微处理器系列第13-15页
    2.2 ARM微处理器的应用选型第15-16页
    2.3 系统CPU S3C4510B概述第16-20页
        2.3.1 CPU内核概述第16-18页
        2.3.2 S3C4510B及片内外围简介第18页
        2.3.3 S3C4510B的引脚分布及信号描述第18-20页
    2.4 本章小结第20-21页
第三章 硬件电路设计第21-42页
    3.1 系统硬件设计概述第21-22页
    3.2 SAMSUNG S3C4510B工作原理第22-26页
        3.2.1 S3C4510B的系统管理器(System Manager)功能概述第22-23页
        3.2.2 系统存储器映射(SYSTEM MEMORY MAP)第23-24页
        3.2.3 S3C4510B的其他工作原理第24-26页
    3.3 硬件选型和单元电路设计第26-41页
        3.3.1 S3C4510B芯片及引脚分析第26-27页
        3.3.2 系统板主要模块电路设计第27-38页
        3.3.3 扩展板主要模块电路设计第38-41页
    3.4 本章小结第41-42页
第四章 硬件设计PCB实现及调试第42-60页
    4.1 设计影响因素分析第42-46页
        4.1.1 干扰分析第42页
        4.1.2 电磁兼容性分析第42-43页
        4.1.3 信号完整性分析第43-46页
    4.2 PCB设计采取的策略第46-50页
        4.2.1 分层与堆叠第47页
        4.2.2 布局第47-48页
        4.2.3 布线第48-49页
        4.2.4 电路抗干扰采取的措施第49-50页
    4.3 设计注意事项第50-54页
        4.3.1 电源质量与分配第50-51页
        4.3.2 同类型信号线的分布第51页
        4.3.3 PCB后续检查处理第51-54页
    4.4 系统硬件调试第54-59页
        4.4.1 各硬件功能模块检测、调试第54-57页
        4.4.2 系统硬件情况汇总第57-59页
    4.5 本章小结第59-60页
第五章 嵌入式系统开发第60-63页
    5.1 嵌入式系统开发过程第60页
    5.2 嵌入式系统开发方法简介第60-62页
    5.3 交叉开发环境建立第62页
    5.4 本章小结第62-63页
结束语第63-64页
参考文献第64-66页
致谢第66-67页
攻读学位期间发表的主要学术论文第67-68页
学位论文评阅及答辩情况表第68页

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