摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
第一章 绪论 | 第10-13页 |
1.1 课题概述 | 第10-11页 |
1.2 本论文的研究内容 | 第11-12页 |
1.3 本论文的结构安排 | 第12-13页 |
第二章 CCD测试电路噪声分析 | 第13-23页 |
2.1 CCD信号噪声的来源 | 第13-15页 |
2.1.1 复位噪声 | 第13-14页 |
2.1.2 纹波噪声 | 第14-15页 |
2.1.3 光子噪声 | 第15页 |
2.1.4 器件噪声 | 第15页 |
2.2 噪声抑制电路设计分析 | 第15-21页 |
2.2.1 电源滤波 | 第15-18页 |
2.2.2 直流驱动信号滤波 | 第18-20页 |
2.2.3 相关双采样电路 | 第20-21页 |
2.3 低噪声PCB设计 | 第21-22页 |
2.3.1 地层设计 | 第21页 |
2.3.2 电磁兼容设计 | 第21页 |
2.3.3 印制电路板的尺寸与器件的布置 | 第21-22页 |
2.4 本章小结 | 第22-23页 |
第三章 测试电路硬件设计 | 第23-49页 |
3.1 测试电路系统结构 | 第23-25页 |
3.1.1 测试系统工作原理 | 第23页 |
3.1.2 测试电路功能模块及结构 | 第23-25页 |
3.2 多光谱TDICCD的器件介绍 | 第25-26页 |
3.2.1 多光谱TDICCD的器件结构 | 第25-26页 |
3.2.2 多光谱TDICCD的工作原理 | 第26页 |
3.3 CCD时序逻辑电路的设计 | 第26-28页 |
3.3.1 时序逻辑电路的功能 | 第26-27页 |
3.3.2 时序逻辑电路的实现 | 第27-28页 |
3.4 CCD驱动电路设计 | 第28-34页 |
3.4.1 驱动电路设计的理论分析 | 第29页 |
3.4.2 复位及水平驱动电路设计 | 第29-32页 |
3.4.3 垂直驱动电路 | 第32-34页 |
3.5 电平调节电路的设计 | 第34-40页 |
3.5.1 电平调节电路技术指标 | 第34-35页 |
3.5.2 电源变换电路 | 第35-37页 |
3.5.3 数字电调电路 | 第37-40页 |
3.6 CCD信号处理电路设计 | 第40-46页 |
3.6.1 信号处理电路设计 | 第40-43页 |
3.6.2 数据传输及采集电路设计 | 第43-46页 |
3.7 电路PCB设计 | 第46-48页 |
3.8 本章小结 | 第48-49页 |
第四章 测试电路软件设计 | 第49-58页 |
4.1 FPGA电路 | 第49-50页 |
4.1.1 FPGA介绍与选型 | 第49页 |
4.1.2 FPGA与外部电路的连接 | 第49-50页 |
4.2 FPGA软件设计 | 第50-54页 |
4.2.1 FPGA软件构建环境 | 第50页 |
4.2.2 FPGA软件编程 | 第50-54页 |
4.3 单片机软件设计 | 第54-55页 |
4.3.1 单片机软件构建环境 | 第54页 |
4.3.2 单片机软件设计 | 第54-55页 |
4.4 计算机图像采集及参数测试软件设计 | 第55-57页 |
4.4.1 VC软件开发环境 | 第55页 |
4.4.2 VC软件开发 | 第55-57页 |
4.5 本章小结 | 第57-58页 |
第五章 多光谱TDICCD参数测试与性能评价 | 第58-72页 |
5.1 多光谱TDICCD光电性能参数指标定义 | 第58-59页 |
5.2 参数的测试方法 | 第59-68页 |
5.2.1 电荷-电压转换因子测试方法(光子转移曲线法) | 第59-62页 |
5.2.2 饱和输出电压、光响应非线性测试方法 | 第62-63页 |
5.2.3 噪声测试方法 | 第63-64页 |
5.2.4 转移效率测试方法 | 第64-65页 |
5.2.5 光响应非均匀性测试方法 | 第65页 |
5.2.6 调制传递函数测试方法 | 第65-67页 |
5.2.7 满阱电荷、动态范围测试方法 | 第67-68页 |
5.3 测试光学系统 | 第68-70页 |
5.4 测试结果 | 第70-71页 |
5.5 本章小结 | 第71-72页 |
第六章 结论 | 第72-73页 |
6.1 本文的主要贡献 | 第72页 |
6.2 下一步工作的展望 | 第72-73页 |
致谢 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-76页 |
硕期间取得的研究成果 | 第76-77页 |