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基于ARM的中子发生器控制台研究与设计

中文摘要第4-6页
英文摘要第6-7页
第1章 引言第10-15页
    1.1 研究背景及意义第10-11页
    1.2 国内外的研究进展第11-13页
    1.3 论文研究的主要内容第13-14页
    1.4 本章小结第14-15页
第2章 中子发生器的结构及原理第15-19页
    2.1 中子发生器基本结构与组成第15页
    2.2 密封中子管结构第15-16页
        2.2.1 储存器第16页
        2.2.2 离子源第16页
        2.2.3 高压源第16页
        2.2.4 靶第16页
    2.3 中子发生器电路构成第16-18页
        2.3.1 中子发生器控制电路第17页
        2.3.2 储存器电源第17页
        2.3.3 离子源电源第17页
        2.3.4 高压源电源第17页
        2.3.5 中子管数据采集电路第17页
        2.3.6 通信电路第17-18页
    2.4 中子发生器使用注意事项第18页
    2.5 本章小结第18-19页
第3章 控制台的硬件设计与实现第19-35页
    3.1 控制台硬件系统总体设计第19页
    3.2 基于LPC1768主控板设计第19-31页
        3.2.1 LPC1768主控芯片第20-25页
        3.2.2 隔离电源模块第25-26页
        3.2.3 数字隔离串口通信模块第26-27页
        3.2.4 PWM驱动模块第27-28页
        3.2.5 AD转换模块第28-30页
        3.2.6 接口连接器设计第30-31页
    3.3 低通滤波电路设计第31页
    3.4 储存器电路第31-32页
    3.5 离子源电路第32-33页
    3.6 高压源电路第33-34页
    3.7 本章小结第34-35页
第4章 控制台的软件设计与实现第35-50页
    4.1 LPC1768微控制器第35-46页
        4.1.1 集成开发环境RealView MDK第36-37页
        4.1.2 AD转换部分第37-44页
        4.1.3 DA输出部分第44-45页
        4.1.4 通信部分第45-46页
    4.2 上位机监控软件第46-48页
    4.3 稳定性算法第48-49页
    4.4 本章小结第49-50页
第5章 中子发生器系统测试第50-58页
    5.1 中子发生器电参数测试第50-52页
    5.2 中子产额稳及其稳定性测试第52-55页
    5.3“自稳定”模式测试第55-57页
    5.4 本章小结第57-58页
第6章 总结与展望第58-61页
    6.1 总结第58-59页
    6.2 中子发生器控制系统的展望第59-61页
参考文献第61-64页
附录 1第64-65页
附录 2第65-66页
致谢第66-67页
在学期间主要科研成果第67页

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