| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第8-9页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-12页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 论文的主要研究工作 | 第12页 |
| 1.4 本文结构 | 第12-13页 |
| 1.5 本章小结 | 第13-14页 |
| 2 超高频RFID识别系统性能分析 | 第14-36页 |
| 2.1 超高频RFID识别系统结构 | 第14-21页 |
| 2.1.1 RFID识别技术简介 | 第14-15页 |
| 2.1.2 射频识别系统的工作原理 | 第15-17页 |
| 2.1.3 超高频RFID识别系统结构 | 第17-21页 |
| 2.2 超高频RFID多标签识别系统关键性能指标 | 第21-24页 |
| 2.2.1 读取范围 | 第22-23页 |
| 2.2.2 读取率 | 第23页 |
| 2.2.3 系统吞吐率 | 第23-24页 |
| 2.3 超高频RFID多标签识别系统性能影响因素 | 第24-35页 |
| 2.3.1 读写器天线 | 第24-25页 |
| 2.3.2 读写器 | 第25-26页 |
| 2.3.3 标签 | 第26-27页 |
| 2.3.4 ISO/IEC 18000-6C协议 | 第27-33页 |
| 2.3.5 其它影响系统性能的因素 | 第33-35页 |
| 2.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 3 多天线识别系统的研究与改进 | 第36-49页 |
| 3.1 多天线识别系统改进方案选择 | 第36-39页 |
| 3.1.1 跳频技术 | 第36-37页 |
| 3.1.2 空间多样性 | 第37-39页 |
| 3.2 多天线识别系统的改进 | 第39-45页 |
| 3.2.1 天线个数的确定 | 第39-41页 |
| 3.2.2 多天线部署位置 | 第41-43页 |
| 3.2.3 多天线分时工作方式的改进 | 第43-45页 |
| 3.3 超高频RFID多标签识别系统读取范围分析 | 第45-48页 |
| 3.3.1 弗里斯传输方程式 | 第45-46页 |
| 3.3.2 超高频RFID多标签识别系统路径损耗模型 | 第46-48页 |
| 3.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 4 改进的多天线识别系统可靠性分析与仿真 | 第49-54页 |
| 4.1 超高频RFID多标签识别系统可靠性评估系数 | 第49页 |
| 4.2 仿真分析 | 第49-53页 |
| 4.3 本章小结 | 第53-54页 |
| 总结与展望 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第58页 |