FPGA软错误防护方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-20页 |
| 1.1 研究背景 | 第14-16页 |
| 1.2 研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 论文主要研究内容 | 第17-18页 |
| 1.4 论文结构 | 第18-20页 |
| 第二章 基础知识 | 第20-24页 |
| 2.1 软错误评价标准 | 第20页 |
| 2.2 独立事件和泊松过程 | 第20-21页 |
| 2.3 单粒子翻转模型 | 第21-24页 |
| 第三章 基本防护方法 | 第24-40页 |
| 3.1 三模冗余防护方法 | 第24-28页 |
| 3.1.1 三模冗余原理 | 第24-27页 |
| 3.1.2 防护性能及要求 | 第27-28页 |
| 3.2 周期刷新防护 | 第28-32页 |
| 3.2.1 周期刷新原理 | 第29-31页 |
| 3.2.2 防护后性能 | 第31-32页 |
| 3.3 汉明码防护 | 第32-40页 |
| 3.3.1 汉明码原理 | 第32-36页 |
| 3.3.2 防护后性能 | 第36-40页 |
| 第四章 FPGA软防护方法及工程实践 | 第40-64页 |
| 4.1 FPGA资源介绍 | 第40-43页 |
| 4.1.2 面积S开销 | 第40-41页 |
| 4.1.3 速度F开销 | 第41-42页 |
| 4.1.4 功耗P开销 | 第42-43页 |
| 4.2 基于模块的三模冗余防护方法 | 第43-46页 |
| 4.2.1 基于模块三模冗余实现 | 第43-44页 |
| 4.2.2 模块三模冗余防护的代价计算 | 第44-46页 |
| 4.3 基于时间三模冗余防护 | 第46-49页 |
| 4.3.1 时间三模冗余防护实现 | 第46-48页 |
| 4.3.2 时间三模冗余防护代价 | 第48-49页 |
| 4.4 周期刷新防护 | 第49-52页 |
| 4.4.1 周期刷新防护性能 | 第50-51页 |
| 4.4.2 周期刷新代价 | 第51-52页 |
| 4.5 周期刷新三模冗余 | 第52-56页 |
| 4.5.2 刷新三模冗余性能分析 | 第52-55页 |
| 4.5.3 刷新三模冗余代价 | 第55-56页 |
| 4.6 汉明码防护 | 第56-64页 |
| 4.6.1 汉明码防护实现 | 第56-59页 |
| 4.6.2 汉明码防护性能代价 | 第59-64页 |
| 第五章 总结和展望 | 第64-66页 |
| 5.1 研究总结 | 第64页 |
| 5.2 研究展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 作者简介 | 第72-73页 |
