50万吨聚乙烯厂包装车间无功补偿装置的设计
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·课题的背景及研究意义 | 第7页 |
| ·无功补偿的研究现状及发展趋势 | 第7-9页 |
| ·无功补偿的研究现状 | 第7-8页 |
| ·无功补偿的发展趋势 | 第8-9页 |
| ·包装车间电网的无功及谐波分析 | 第9-10页 |
| ·课题来源及主要研究内容 | 第10-11页 |
| 第二章 SVC基本理论概述与研究 | 第11-23页 |
| ·无功补偿的基本理论 | 第11-13页 |
| ·SVC的工作原理 | 第13-17页 |
| ·晶闸管控制电抗器(TCR) | 第13-15页 |
| ·晶闸管投切电容器(TSC) | 第15-17页 |
| ·SVC的补偿控制方式 | 第17-18页 |
| ·基于瞬时无功功率理论的SVC信号检测方法 | 第18-22页 |
| ·瞬时无功功率理论 | 第18-20页 |
| ·基于瞬时无功功率理论的SVC信号检测方法 | 第20-22页 |
| ·小结 | 第22-23页 |
| 第三章 包装车间无功补偿装置的总体设计 | 第23-29页 |
| ·补偿位置与补偿容量的确定 | 第23-24页 |
| ·SVC主电路设计 | 第24-25页 |
| ·SVC主电路各元件的定参及选型 | 第25-27页 |
| ·SVC对控制器的要求 | 第27-28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 第四章 控制器的硬件设计与实现 | 第29-45页 |
| ·控制器的总体设计 | 第29页 |
| ·主控电路设计 | 第29-32页 |
| ·DSP芯片的选型 | 第30页 |
| ·电源电路和AD校正电路设计 | 第30-32页 |
| ·信号调理模块设计 | 第32-36页 |
| ·电压电流变送电路和信号调理电路设计 | 第32-34页 |
| ·过零检测电路和锁相倍频电路设计 | 第34-36页 |
| ·TCR触发模块设计 | 第36-38页 |
| ·光电隔离电路设计 | 第36页 |
| ·触发时刻锁定电路 | 第36-37页 |
| ·触发驱动电路设计 | 第37-38页 |
| ·TSC过零触发模块设计 | 第38-40页 |
| ·电压过零检测电路和信号隔离电路设计 | 第39页 |
| ·过零时刻锁定电路设计 | 第39-40页 |
| ·故障检测模块设计 | 第40-44页 |
| ·过温检测电路设计 | 第40-41页 |
| ·过流及断路检测电路设计 | 第41-44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| 第五章 控制器的软件设计 | 第45-53页 |
| ·主程序设计 | 第45-46页 |
| ·AD采样及校正子程序 | 第46-47页 |
| ·数据运算及处理子程序 | 第47-48页 |
| ·补偿控制子程序 | 第48-51页 |
| ·故障处理子程序 | 第51-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第六章 硬件调试与系统仿真 | 第53-65页 |
| ·硬件调试 | 第53-58页 |
| ·信号调理模块调试 | 第53-54页 |
| ·TSC过零触发模块调试 | 第54-56页 |
| ·TCR触发模块调试 | 第56页 |
| ·故障检测模块调试 | 第56-58页 |
| ·系统仿真 | 第58-64页 |
| ·TCR的建模与仿真 | 第58-60页 |
| ·TSC的建模与仿真 | 第60-61页 |
| ·SVC系统建模与仿真 | 第61-64页 |
| ·小结 | 第64-65页 |
| 第七章 结论与展望 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 附录 | 第69-73页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及参加的科研 | 第73-74页 |