| TABLE OF CONTENTS | 第1-8页 |
| LIST OF FIGURES | 第8-11页 |
| Abstract | 第11-13页 |
| Chapter 1. Introduction | 第13-15页 |
| Chapter 2. The Standard Model and top quark physics | 第15-31页 |
| ·The particle physics | 第15页 |
| ·The Standard Model | 第15-21页 |
| ·The fundamental particles | 第16-18页 |
| ·The electroweak interaction | 第18-20页 |
| ·The quantum chromodynamics | 第20-21页 |
| ·The top quark physics | 第21-31页 |
| ·The top quark Production | 第21-24页 |
| ·The single top quark production | 第21-22页 |
| ·The top quark pair production | 第22-24页 |
| ·The top quark decay | 第24-25页 |
| ·The top quark properties | 第25-31页 |
| ·The W polarization | 第25-28页 |
| ·The tt spin correlation | 第28-31页 |
| Chapter 3. The LHC and ATLAS experiment | 第31-47页 |
| ·The LHC | 第31-34页 |
| ·The ATLAS experiment | 第34-47页 |
| ·The magnet system | 第35-37页 |
| ·The inner detector | 第37-39页 |
| ·The calorimeters | 第39-41页 |
| ·The electromagnetic calorimeter | 第40-41页 |
| ·The hadronic Calorimeters | 第41页 |
| ·The muon spectrometer | 第41-43页 |
| ·The precision-measurement tracking chambers | 第42-43页 |
| ·The trigger chambers | 第43页 |
| ·Trigger and Data Acquisition | 第43-47页 |
| Chapter 4. The collision data and Monte Carlo samples | 第47-51页 |
| ·The collision data | 第47页 |
| ·The MC samples | 第47-51页 |
| Chapter 5. The electron identification efficiency measurement | 第51-71页 |
| ·The measurement motivation | 第51页 |
| ·The identification criteria | 第51-55页 |
| ·The measurement method-Tag and Probe method | 第55-57页 |
| ·The measurement results-Efficiency and Scale factor | 第57-65页 |
| ·The trigger dependence of electron id efficiency measurement | 第65-68页 |
| ·The pile-up dependence of the ID efficiency measurement | 第68-69页 |
| ·Summary | 第69-71页 |
| Chapter 6. The Objects selection | 第71-83页 |
| ·Electron | 第71-73页 |
| ·The electron identification | 第71页 |
| ·The electron trigger | 第71-72页 |
| ·The offline electron selection | 第72页 |
| ·The electron efficiencies and scale factors | 第72-73页 |
| ·The electron energy scale and resolution smearing | 第73页 |
| ·Muon | 第73-76页 |
| ·The muon identification | 第74页 |
| ·The muon trigger | 第74页 |
| ·The offline muon selection | 第74-75页 |
| ·The muon momentum scale and resolution smearing | 第75页 |
| ·The muon efficiencies and scale factors | 第75-76页 |
| ·Jet | 第76-78页 |
| ·The jet calibration | 第76页 |
| ·The jet energy scale and uncertainties | 第76-77页 |
| ·The jet energy resolution | 第77页 |
| ·The jet quality and pile-up rejection | 第77-78页 |
| ·The Jet reconstruction efficiency | 第78页 |
| ·The b-tagging of jet | 第78-79页 |
| ·The ETmiss Description and Performance | 第79-83页 |
| Chapter 7. The event reconstruction | 第83-95页 |
| ·The event selection | 第83-84页 |
| ·The event reconstruction | 第84-86页 |
| ·The W+jets background estimation | 第86-87页 |
| ·The QCD background estimation | 第87页 |
| ·The Event yield and control plots | 第87-95页 |
| Chapter 8. The Unfolding method | 第95-99页 |
| ·Introduction | 第95页 |
| ·The response matrix | 第95-97页 |
| ·The iteration method | 第97-99页 |
| Chapter 9. The W boson polarization measurement | 第99-113页 |
| ·The scan method in unfolding technique | 第99-100页 |
| ·The validation of the unfolding technique | 第100-107页 |
| ·The binning choice | 第100-101页 |
| ·The effects of iteration | 第101-104页 |
| ·The un-bias test | 第104-105页 |
| ·The I/O test | 第105页 |
| ·The closure test based on SM matrix | 第105-107页 |
| ·The differential measurement | 第107-109页 |
| ·The inclusive measurement | 第109页 |
| ·The systematic uncertainties | 第109-113页 |
| Chapter 10. The ttbar spin correlation measurement | 第113-121页 |
| ·The validation of the unfolding technique | 第114-118页 |
| ·The binning choice | 第114-115页 |
| ·The effects of the iteration | 第115页 |
| ·The un-bias test | 第115-116页 |
| ·The I/O test | 第116-117页 |
| ·The closure test based on SM matrix | 第117-118页 |
| ·The differential measurement | 第118-121页 |
| Chapter 11. Summary and outlook | 第121-123页 |
| BIBLIOGRAPHY | 第123-127页 |
| ACKNOWLEDGEMENTS | 第127-129页 |
| LIST OF PUBLISHED PAPERS | 第129-130页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第130页 |
